LED驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試方法研究.pdf

1、近年來(lái)，發(fā)光二極管LED(Light Emitting Diode)顯示屏作為一項(xiàng)高新科技產(chǎn)品正引起人們的高度重視，它以其動(dòng)態(tài)范圍廣，亮度高，壽命長(zhǎng)，工作性能穩(wěn)定而被廣泛應(yīng)用于廣告、電信、交通和各種大型運(yùn)動(dòng)賽事及國(guó)際活動(dòng)中。LED顯示屏的應(yīng)用離不開(kāi)它所需要的驅(qū)動(dòng)控制電路，因此，通過(guò)對(duì)LED驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試，篩選出邏輯功能正確，且具有良好、平穩(wěn)輸出電流的電路，以滿(mǎn)足各種場(chǎng)合的應(yīng)用要求。
　　論文設(shè)計(jì)了一種內(nèi)建多種灰度的脈沖寬度調(diào)制(P

2、ulse Width Modulation，PWM)方式的16位LED恒流驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試方案。整個(gè)測(cè)試方案分為兩部分：?jiǎn)纹瑱C(jī)(Micro Control Unit，MCU)驗(yàn)證測(cè)試和自動(dòng)測(cè)試儀(Automatic Test Equipment，ATE)生產(chǎn)測(cè)試。
　　MCU驗(yàn)證測(cè)試主要用于驗(yàn)證電路設(shè)計(jì)的正確性，電路功能是否滿(mǎn)足規(guī)格說(shuō)明書(shū)中的所有要求。本文詳細(xì)介紹了MCU驗(yàn)證測(cè)試的硬件電路設(shè)計(jì)方案及各功能測(cè)試模塊的軟件設(shè)計(jì)方案，最后

3、，還開(kāi)發(fā)了機(jī)械手Handler接口程序，將測(cè)試板和Handler連接起來(lái)，組成簡(jiǎn)單的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，用于小批量的驗(yàn)證測(cè)試。
　　ATE測(cè)試方案主要用于批量生產(chǎn)時(shí)的測(cè)試，相比較于MCU開(kāi)發(fā)的測(cè)試方案來(lái)說(shuō)，具有測(cè)試項(xiàng)目更全面、維護(hù)簡(jiǎn)單、測(cè)試速度快、界面良好等優(yōu)點(diǎn)，是本文研究的重點(diǎn)。本文系統(tǒng)的介紹了ATE的硬件結(jié)構(gòu)、性能指標(biāo)及軟件開(kāi)發(fā)、調(diào)試工具。接著，重點(diǎn)介紹了LED驅(qū)動(dòng)電路各測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試原理、測(cè)試方法及程序說(shuō)明，以及電路的功能時(shí)序圖，測(cè)

4、試波形圖。并結(jié)合電路測(cè)試的難點(diǎn)和重點(diǎn)，有針對(duì)性地提出了一種測(cè)試方法。最后，本文還設(shè)計(jì)了測(cè)試數(shù)據(jù)分析模板，方便數(shù)據(jù)的分析。該設(shè)計(jì)方案完成了電路的功能驗(yàn)證和電特性測(cè)試，并最終用于量產(chǎn)測(cè)試。
　　本文是在積累的電路測(cè)試方法與經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上，在保證電路測(cè)試故障覆蓋率的前提下，從降低測(cè)試成本，縮短測(cè)試時(shí)間考慮，開(kāi)發(fā)了這套LED驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試方案。本測(cè)試方案，達(dá)到了預(yù)期的目的，實(shí)際用在被測(cè)電路的初期性能驗(yàn)證和后續(xù)的工程批量生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中，均取得