環(huán)境綜合應力作用下航天電連接器可靠性分析與建模.pdf

1、該文以Y11X系列圓形電連接器為研究對象,對電連接器失效模式、失效機理和可靠性建模進行了系統(tǒng)、深入的研究.首先,介紹了國內外可靠性研究的發(fā)展歷史和現(xiàn)狀;其次,通過對現(xiàn)場、試驗場電連接器的失效情況進行統(tǒng)計和分析,總結出電連接器的四種主要失效模式:電接觸失效、絕緣失效、機械連接失效和其他失效,并對電連接器進行了故障樹分析,指出電接觸失效是電連接器失效的主要形式,而在正常的工作條件下,造成電接觸失效,即決定電連接器工作壽命的主要原因是氧化膜層

2、的生長、接觸對磨損以及磨損腐蝕物的堆積,而影響氧化膜層的生長、接觸對磨損以及磨損腐蝕物堆積的主要因素是環(huán)境振動和溫度應力,為電連接器進行失效機理分析奠定了基礎.第三,分析了電連接器在溫度應力下的失效機理;并通過對電連接器的結構及電連接器在振動應力作用下的動態(tài)特性進行分析,探討了電連接器在振動應力作用下的失效機理;通過對電連接器進行環(huán)境溫度、振動應力綜合作用下的失效分析,確定其主要失效機理為微動磨損,結合微動圖理論對微動過程進行分析,為電