集成電路自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng).pdf

1、本文對(duì)集成電路自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)應(yīng)用進(jìn)行了研究。它的工程背景是為上海復(fù)旦微電子股份有限公司開(kāi)發(fā)一套低成本、高效率的集成電路自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)用于集成電路的debug測(cè)試。 本文首先對(duì)開(kāi)發(fā)樣片測(cè)試自動(dòng)化系統(tǒng)的必要性進(jìn)行了闡述。集成電路測(cè)試中需要進(jìn)行直流參數(shù)、交流參數(shù)、整體功能等測(cè)試，在樣片的debug測(cè)試中還要進(jìn)行電壓和溫度特性掃描。這些測(cè)試的共同特點(diǎn)是工作量大，需要按照嚴(yán)格的測(cè)試要求進(jìn)行，存在大量的重復(fù)勞動(dòng)。如果采用手動(dòng)測(cè)試，不但

2、需要耗費(fèi)大量的時(shí)間，測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性也難以保證。因此很有必要開(kāi)發(fā)集成電路樣片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)以提高測(cè)試效率，減輕測(cè)試人員勞動(dòng)強(qiáng)度，縮短集成電路樣片測(cè)試周期。 其次進(jìn)行了系統(tǒng)方案選擇并說(shuō)明理由。具體介紹了本系統(tǒng)的特色。本系統(tǒng)充分利用數(shù)控電源、萬(wàn)用‘表、溫度設(shè)備、信號(hào)源、多功能板卡、數(shù)字板卡等設(shè)備，將現(xiàn)成的硬件資源基于PC集成為一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。本系統(tǒng)具備手動(dòng)界面操作和腳本自動(dòng)運(yùn)行兩種工作方式。手動(dòng)界面操作方式簡(jiǎn)單易懂，只需按照系統(tǒng)

3、提示操作即可進(jìn)行測(cè)量，：同時(shí)也利于被測(cè)器件的Debug；腳本自動(dòng)運(yùn)行方式測(cè)試效率高，可以利用腳本自動(dòng)完成所有測(cè)試。另外本系統(tǒng)在滿足現(xiàn)有測(cè)試應(yīng)用要求的基礎(chǔ)上，設(shè)計(jì)中考慮了一定的靈活性和系統(tǒng)可擴(kuò)展性。用戶可以根據(jù)項(xiàng)目具體要求進(jìn)行硬件設(shè)備配置。 再次，介紹了本系統(tǒng)的具體實(shí)現(xiàn)。包括界面設(shè)計(jì)、軟件架構(gòu)和技術(shù)模塊實(shí)現(xiàn)。最后，進(jìn)行項(xiàng)目總結(jié)。介紹了項(xiàng)目開(kāi)發(fā)情況及項(xiàng)目完成后的應(yīng)用情況。本樣片測(cè)試自動(dòng)化系統(tǒng)已經(jīng)成功應(yīng)用于實(shí)際，取得了良好的應(yīng)用效果，