基于圖像處理的太陽能單晶硅片表面質量檢測.pdf

1、太陽能以其清潔、儲量大、無污染等優(yōu)點受到世界各國的普遍關注和越來越廣泛的應用。然而,隨著太陽能技術的發(fā)展,對太陽能單晶硅片質量控制的要求不斷提高。質量控制在太陽能單晶硅片生產中的意義和重要性顯得日趨顯著,良好的品質不僅代表企業(yè)的形象,也是贏得市場的前提。目前,傳統(tǒng)的人工檢測的方法存在著較多弊端,同時對企業(yè)的發(fā)展和規(guī)?；a有較大的影響。因此,研究和開發(fā)太陽能單晶硅片表面缺陷檢測系統(tǒng)不僅具有一定的理論價值也具有實際的應用價值。
　　

2、 本文的主要工作有以下幾個方面:
　　 (1)基于相關研究報告和數(shù)據(jù),綜述太陽能行業(yè)的發(fā)展歷史狀況和趨勢；根據(jù)太陽能硅片表面缺陷檢測系統(tǒng)的技術要求,提出基于圖像處理的檢測系統(tǒng)的總體設計方案,簡述檢測系統(tǒng)的組成結構、數(shù)據(jù)流程和工作原理。
　　 (2)采用強化細節(jié)的自適應直方圖均衡化來增強圖像,實驗結果表明該方法在突出缺陷區(qū)域的同時抑制了背景噪聲,有效地增強了圖像的層次感。針對圖像降噪問題,本文設計了一種新型的改進中值濾波

3、器,給出了改進的權值公式,采用該權值,能夠有效地減小噪聲點的權值,用這些權值對灰度值進行加權,然后累加以實現(xiàn)降噪,由于該混合濾波器綜合了中值和均值兩種濾波過程,因此具有兩者的優(yōu)點,能夠較好地實現(xiàn)降噪。針對太陽能單晶硅片缺陷的不規(guī)則性,引入八方向Sobel算子進行邊緣檢測,實驗結果證明該算法提高了邊緣檢測的定位精度和連通性,有效地提升了邊緣檢測的效果。
　　 (3)基于太陽能單晶硅片缺陷圖像和非缺陷圖像的差異性,構造一個用于缺陷檢