CuCr真空觸頭材料的制備及其組織與性能的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、近年來,隨著國家電力技術的進步,我國真空開關有了飛躍的發(fā)展,對其核心部件觸頭材料提出了更高的要求,CuCr觸頭材料是目前國內外真空開關的首選材料,需開發(fā)研制新型CuCr觸頭材料,以滿足更嚴苛環(huán)境下的使用要求。研究發(fā)現(xiàn)CuCr合金的微觀特性對其宏觀性能有重要的影響。目前,改善CuCr觸頭材料組織性能的主要方法有:1.添加新組元,優(yōu)化合金成分;2.改進和采用新工藝;3.后續(xù)加工及熱處理。本論文采用高能預球磨細化Cr粉,并利用先進的熱等靜壓技

2、術制備CuCr觸頭材料,添加Zr和TiC,并后續(xù)進行固溶時效熱處理,研究Cr顆粒尺寸、添加組元和熱處理對CuCr觸頭材料微觀組織、維氏硬度、電導率、機械強度和真空電擊穿性能的影響。
  通過分析CuCr觸頭材料的組織及性能可知:采用1000℃*120MPa*2h熱等靜壓固相燒結工藝可成功制備不同Cr顆粒尺寸接近完全致密的CuCr觸頭材料,合金的組織均勻致密,物相純凈。添加的Zr存在于Cu基體,并在Cu/Cr界面富集,改善Cu與Cr

3、的燒結性;添加的TiC存在于Cu基體中,填充Cu與Cr的間隙。
  結果表明:添加TiC組元,合金的機械性能增加,電導率略有降低;隨著Cr顆粒尺寸的減小,合金的機械性能提高,電導率有一定程度的降低;采用960℃*1h+500℃*4h固溶時效工藝,合金的機械性能明顯提高,電導率有一定程度的回升。
  對CuCr觸頭材料的電擊穿燒蝕研究表明,其電擊穿發(fā)生在富Cr相及富Cr相與富Cu相的邊界。減小Cr顆粒尺寸,電擊穿也會發(fā)生在富C

4、u相上,CuCr合金耐電壓強度提高,截流值降低,電弧壽命略有延長。添加TiC,電擊穿發(fā)生在電子逸出功較低的TiC上以及TiC/Cu相界面處,電弧得到有效的分散,合金耐電壓強度提高,截流值降低,電弧壽命延長;經過固溶時效處理,合金燒蝕區(qū)域較分散,耐電壓強度提高,截流值降低,電弧壽命延長。
  CuCr29Zr1(Cr76μm)合金的相對電導率為44.76%IACS,抗拉強度357.0MPa,耐電壓強度5.38×107V/m,截流值為

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