基于FPGA數(shù)字集成電路的可測性實(shí)現(xiàn).pdf_第1頁
已閱讀1頁，還剩75頁未讀， 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、如今，集成電路產(chǎn)業(yè)飛速發(fā)展，IC產(chǎn)品變得功能多、速度快、功耗低、封裝微型化的同時(shí)，問題也隨之而來:第一，IC功能增多，一個(gè)芯片往往集成了數(shù)百萬至數(shù)千萬不止的元器件，引腳數(shù)目增多，集成度增高;第二，封裝技術(shù)復(fù)雜化、微型化致使每個(gè)單元之間的連線越加狹窄，引腳間越加細(xì)密。這些無疑都增加了IC測試的時(shí)間、功耗與難度，降低了芯片物理訪問性。傳統(tǒng)基于物理接觸的測試技術(shù)根本無法跟上1C發(fā)展的步調(diào)，IC測試遭遇瓶頸。在此背景下，可測性設(shè)計(jì)方法被提出，并

2、以其簡捷、自動化的特點(diǎn)高效的克服了上述問題，被迅速推廣應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。
　　本文的主要工作是采用IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)針對數(shù)字電路的邊界掃描自測試結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)。通過一個(gè)16位狀態(tài)機(jī)的邊界掃描控制器協(xié)調(diào)控制各個(gè)測試存取通道和各類寄存器模塊，實(shí)現(xiàn)測試向量的加載、移位、更新、測試響應(yīng)的捕獲。最后將測試控制電路、被測電路、測試分析電路整體下載至開發(fā)板，實(shí)施對電路故障的診斷，達(dá)到自測試的目的。設(shè)計(jì)中采用LFSR生成一系列二進(jìn)制偽隨機(jī)數(shù)作

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽，若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論