電致發(fā)光測(cè)試在晶硅電池組件檢測(cè)認(rèn)證中的應(yīng)用研究.pdf

1、隨著晶體硅太陽能電池大量的生產(chǎn)和應(yīng)用，光伏組件在質(zhì)量控制環(huán)節(jié)的重要性日益突出。晶硅電池組件的電致發(fā)光（electroluminescence，EL）測(cè)試是近年來開發(fā)應(yīng)用的有效測(cè)試手段，國際電工委員會(huì)(Intemational ElectrotechnicalCommission，IEC)已經(jīng)提出為光伏組件電致發(fā)光圖像的檢測(cè)制定標(biāo)準(zhǔn)，國內(nèi)也需要一套晶硅電池組件EL測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)來規(guī)范測(cè)試操作及結(jié)果判定。本文的研究即是為國內(nèi)EL測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的制定做

2、準(zhǔn)備。
　　首先，針對(duì)測(cè)試環(huán)境，包括光強(qiáng)、溫度、氣流等，建立由CCD照相機(jī)、直流電源等儀器構(gòu)成的測(cè)試系統(tǒng)。并且規(guī)范了EL測(cè)試的操作及流程，包括相機(jī)設(shè)置，偏置電流設(shè)置以及計(jì)算機(jī)捕獲圖像及處理方法。
　　其次，分析造成光伏組件缺陷的原因，針對(duì)電池片的隱裂問題進(jìn)行研究，通過實(shí)驗(yàn)?zāi)M電池片不同位置存在單一直線裂紋以及受到不同大小點(diǎn)壓力的情況，在Python下用Opencv開發(fā)程序分析計(jì)算電池片失效面積占比。單一直線裂紋實(shí)驗(yàn)中，多晶硅

3、電池片功率下降在10％左右，單晶硅電池片功率下降為1.7％至5.7％;點(diǎn)壓力實(shí)驗(yàn)中，則下降分別為11％和4％左右。對(duì)比EL測(cè)試圖像以及其他參數(shù)的測(cè)試結(jié)果，確定這兩種典型破壞對(duì)晶體硅太陽能電池片性能的影響，進(jìn)而制定關(guān)于隱裂的判定標(biāo)準(zhǔn)。
　　最后，結(jié)合實(shí)際測(cè)試情況，針對(duì)組件中的其他缺陷，在戶外對(duì)大量晶硅電池組件進(jìn)行EL測(cè)試，并對(duì)比其經(jīng)STC(standard test condition)修正后的短路電流、開路電壓、功率以及效率等參數(shù)