高速電光相位調制器的高頻特性測試研究.pdf

1、電光相位調制器是電光調制器中最簡單的一種，它相對于強度調制器具有結構簡單、插入損耗低等優(yōu)點，因此電光相位調制器在光通信、微波光子等領域有廣泛的應用。半波電壓是相位調制器主要的參數(shù)之一，本論文的主要內容就是研究電光相位調制器的半波電壓的測試方法，由這些測試方法得到電光相位調制器的高頻特性。
　　本論文首先設計了光譜分析法測量電光相位調制器的半波電壓，光譜分析法包括光載波零點法和一階邊帶光載波比的方法。使用光載波零點法以及一階邊帶光載

2、波比的方法，測量了相位調制器的半波電壓。得到了高頻調制情況下，相位調制器半波電壓隨調制頻率的變化關系。在小信號近似情況下，得到相位調制器半波電壓與一階邊帶光載波強度比之間的解析關系。
　　設計了外差法測量電光相位調制器的半波電壓，外差法包括不同階邊帶強度比的方法和同階邊帶強度比的方法。利用相位調制器輸出光信號的邊帶與參考光拍頻信號的功率值，表征相位調制器輸出光信號對應階邊帶的強度大小。使用不同階邊帶強度比的方法，測量得到相位調制器

3、半波電壓隨調制頻率的變化關系，實現(xiàn)了低頻調制情況下的測量，提高了測量的分辨率。提出同階邊帶強度比的方法，在實現(xiàn)低頻調制測量和提高分辨率的情況下，消除了光電探測器、微波放大器和微波電纜頻率響應的影響，降低了高頻調制情況下對頻譜分析儀測量范圍和光電探測器帶寬的要求。光譜分析法和外差法測量結果基本一致，由此驗證了外差法的準確性。
　　設計了基于FM-IM(Frequency-modulation to intensity-modulat