半橋驅(qū)動芯片參數(shù)自動測試系統(tǒng)的設計.pdf

1、半橋驅(qū)動芯片因為其體積小、可靠性高等優(yōu)點已經(jīng)被廣泛應用于電機驅(qū)動、高頻開關電源和電動汽車等高可靠性系統(tǒng)中。在不同的應用系統(tǒng)中，半橋驅(qū)動芯片的參數(shù)會因其應用環(huán)境的變化出現(xiàn)漂移，對系統(tǒng)的可靠性產(chǎn)生負面影響，所以在系統(tǒng)設計前應對半橋驅(qū)動芯片的參數(shù)進行準確測試。而傳統(tǒng)的手工測試存在低效率、精度差和可復測性弱的缺點，無法準確的獲得芯片的各項性能指標，所以研究高效率、高精度的半橋驅(qū)動芯片自動測試系統(tǒng)具有重要意義。
　　半橋驅(qū)動芯片的核心參數(shù)包

2、括靜態(tài)參數(shù)、開關時間和dv/dt等。首先，本論文深入研究了典型的靜態(tài)參數(shù)測試方案，發(fā)現(xiàn)其最大難點在于參數(shù)多、儀器分立，為了提升測試效率，采用LabVIEW進行模塊化控制以完成靜態(tài)參數(shù)的自動化測試。其次，本論文對開關時間測試電路進行了分析，分析結(jié)果表明其寄生參數(shù)會對動態(tài)參數(shù)測試精度產(chǎn)生不利影響，造成測試波形的震蕩甚至損壞器件，因此本論文建立了包含寄生參數(shù)的測試電路模型，并利用Saber軟件進行仿真，最終指導開關時間測試系統(tǒng)的設計。然后，本

3、論文對傳統(tǒng)的dv/dt測試電路進行改進，推導出滿足設計指標的驅(qū)動電阻表達式，并給出了一種“源極開爾文接法”的dv/dt測試優(yōu)化方案。最后，本論文通過編程實現(xiàn)軟硬件結(jié)合，完成硬件的自動化控制和數(shù)據(jù)處理與分析，建立了高精度且自動化的動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)。
　　本論文構(gòu)建了半橋驅(qū)動芯片的自動測試系統(tǒng)，實現(xiàn)了靜態(tài)參數(shù)與動態(tài)參數(shù)的自動測試。實測結(jié)果顯示，靜態(tài)參數(shù)誤差為5％，耗時小于20分鐘，效率提升50％;動態(tài)參數(shù)誤差在5％內(nèi)，耗時2分鐘，效率