納米聚合物中空粒子制備多層防反射薄膜的研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁，還剩64頁未讀， 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

1、本研究采用納米聚合物中空粒子制備納米多孔防反射薄膜，以期在寬波長范圍內(nèi)減少基質(zhì)表面的反射率，主要研究內(nèi)容如下:
　　一納米多孔防反射薄膜的設(shè)計根據(jù)光的干涉原理和CMT膜系設(shè)計原理，在350-2000nm的波長范圍內(nèi)設(shè)計納米多孔防反射薄膜的結(jié)構(gòu)。結(jié)果發(fā)現(xiàn):當薄膜結(jié)構(gòu)為四層時，底層薄膜的折光指數(shù)為1.44，接近玻璃的折光指數(shù)(1.53)，且所需的納米膠囊的核/殼為1∶25.6，幾乎為實心結(jié)構(gòu)，已無存在必要，故本研究主要針對單層、雙層和

2、三層防反射薄膜。
　　二納米聚合物膠囊的制備根據(jù)上述設(shè)計中對納米聚合物膠囊的要求，按照文獻[1]中的方法，采用RAFT細乳液界面交聯(lián)聚合法制備納米聚合物膠囊，用透射電鏡(TEM)觀察納米膠囊的結(jié)構(gòu)。
　　三納米多孔防反射薄膜的制備采用上述納米聚合物膠囊，通過旋涂和高溫真空干燥，即可得到納米多孔防反射薄膜，用紫外-可見-近紅外分光光度計測試防反射薄膜的光學性能，用掃描電鏡(SEM)觀察薄膜的表面形貌和斷面形貌，并用橢偏儀對薄膜

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預覽，若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論