硅基ZnO系薄膜及其發(fā)光器件.pdf_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩75頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、ZnO具有3.37 eV的直接寬禁帶,在室溫下有相當(dāng)高的激子束縛能(60 meV),是潛在的電致紫外發(fā)光器件的半導(dǎo)體材料。當(dāng)ZnO與CdO形成合金半導(dǎo)體CdxZnO1-xO時(shí),禁帶寬度可以減小到~1.8 eV,因而可用于制備電致可見(jiàn)發(fā)光器件。本文在硅基上制備了基于ZnO缺陷發(fā)光的電致發(fā)光器件,研究了其發(fā)光性能;此外,利用反應(yīng)磁控濺射法制備了CdxZn1-xO薄膜,研究了其光致發(fā)光隨熱處理?xiàng)l件的變化情況,為制備基于CdxZn1-xO薄膜的

2、電致可見(jiàn)發(fā)光器件打下基礎(chǔ)。本文得到了如下主要結(jié)果;
   以溶膠-凝膠法在重?fù)脚鸸杵?p+-Si)襯底上制備含有ZnO晶粒的Zn2SiO4(Zn2SiO4:ZnO)薄膜,形成硅基Zn2SiO4:ZnO薄膜發(fā)光器件。該器件表現(xiàn)出良好的整流特性:在正向偏壓下,器件產(chǎn)生與ZnO缺陷相關(guān)的電致發(fā)光,發(fā)光強(qiáng)度隨著正向偏壓的增大而不斷增強(qiáng),而反向偏壓下器件不發(fā)光?;谠撈骷哪軒ЫY(jié)構(gòu),初步解釋了上述載流子輸運(yùn)和電致發(fā)光的機(jī)理。
  

3、 利用直流反應(yīng)磁控濺射生長(zhǎng)了高度c軸取向生長(zhǎng)的單一六方相CdxZn1-xO薄膜,研究了熱處理對(duì)薄膜的晶體結(jié)構(gòu)和光致發(fā)光的影響。結(jié)果表明:(a)經(jīng)過(guò)不同溫度(500-800℃)常規(guī)熱處理,隨著熱處理溫度的升高,CdxZn1-xO薄膜中Cd含量逐漸降低,且由于Cd的揮發(fā)而使薄膜出現(xiàn)孔洞,與此同時(shí)薄膜分相,而發(fā)光峰位由于薄膜中物相的變化而發(fā)生相應(yīng)的變化。(b)經(jīng)N2氣氛下500-700℃快速熱處理(RTA)后的薄膜的光致發(fā)光強(qiáng)度顯著提高。隨著

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論