鎖相環(huán)片上抖動(dòng)測(cè)量電路設(shè)計(jì).pdf

1、隨著半導(dǎo)體工藝的不斷進(jìn)步，鎖相環(huán)在系統(tǒng)芯片中的應(yīng)用越來越廣泛，時(shí)鐘抖動(dòng)是表征鎖相環(huán)性能的最重要的參數(shù)之一。傳統(tǒng)的抖動(dòng)測(cè)量主要使用昂貴的外部測(cè)試儀器，但隨著鎖相環(huán)的工作頻率不斷提高，這些方法不但增加了測(cè)量成本，而且引入了測(cè)量噪聲，降低了測(cè)量可靠性?；趦?nèi)建自測(cè)試原理的片上抖動(dòng)測(cè)量電路有效地解決了這些問題。
　　 本文針對(duì)近年來應(yīng)用于測(cè)量鎖相環(huán)時(shí)鐘抖動(dòng)的內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)進(jìn)行了分析和探討，并總結(jié)出各種BIST方案在實(shí)際應(yīng)用時(shí)的優(yōu)缺點(diǎn)，然

2、后改進(jìn)了一種鎖相環(huán)片上抖動(dòng)測(cè)量電路。該測(cè)量電路基于游標(biāo)振蕩器的原理，利用兩個(gè)振蕩回路振蕩周期的差值來測(cè)量信號(hào)抖動(dòng)。電路有四種測(cè)量分辨率，可以根據(jù)不同的輸入頻率選擇不同的測(cè)量分辨率，在有效降低測(cè)量時(shí)間的同時(shí)節(jié)約了電路的測(cè)試成本；本電路能在高頻下直接測(cè)量鎖相環(huán)輸出信號(hào)的周期抖動(dòng)，同時(shí)無需外部提供理想的參考信號(hào)；此外，文中使用了一個(gè)校準(zhǔn)方案對(duì)測(cè)量電路進(jìn)行了校準(zhǔn)，在大大降低校準(zhǔn)成本的同時(shí)提高了測(cè)量電路的可靠性。
　　 本文提出的鎖相環(huán)片