BESⅢ端蓋飛行時間讀出電子學系統(tǒng)升級設計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、UniversityofScienceTechnologyofChinaAdissertationfmaster’sdegreeDesignoftheUpgradingReadoutElectronicsSystemfBESIIIETOFAuth’sName:ChunyanYinspeciality:PhysicalElectronicsSupervis:Prof.ShubinLiuFinishedtime:April2011摘要摘要北

2、京正負電子對撞機(BEPC)和北京譜儀(BESIII)于2008年7月成功升級,升級后系統(tǒng)分別稱為BEPCII和BESIII。作為對撞機的核心部分之一,北京譜儀BESIII擔負著測量和分辨對撞機產(chǎn)生的粒子任務,由主漂移室,飛行時間計數(shù)器(TOF),μ子計數(shù)器,以及對應的讀出電子學系統(tǒng)等組成。自升級后運行以來,各項指標均滿足設計要求,取得一系列重大成果。飛行時間計數(shù)器(TOF)是BESIII實現(xiàn)粒子分辨的重要部分,測量帶電粒子飛行時間,分

3、為端蓋(ETOF)和桶部(BTOF)兩部分,其中BTOF是世界上同類TOF探測器中性能最好的,時間測量精度小于90ps。但ETOF由于1)物質(zhì)層散射增加了端蓋徑跡長度的不確定性;2)MDC徑跡重建導致Z向擊中位置不確定;3)受到噪聲問題的困擾,導致ETOF測量精度僅138ps。為實現(xiàn)更高的時間分辨和提高粒子分辨能力,ETOF系統(tǒng)將升級,包括探測器和讀出電子學系統(tǒng)。升級后的系統(tǒng)探測器將使用MRPC技術,具有高時間分辨精度和探測效率,并在國

4、際大型粒子物理裝置,如CERN的ALICETOF系統(tǒng)和美國BNL的STARTOF系統(tǒng)中成功運用。根據(jù)MRPC探測器輸出特點,飛行時間讀出電子學系統(tǒng)也將升級,以實現(xiàn)高精度的飛行時間測量,測量精度要求小于25ps。本文將討論ETOF升級讀出電子學系統(tǒng)實現(xiàn)方案,重點介紹時間測量的實現(xiàn)方法和升級系統(tǒng)中采用的方案、時間數(shù)字化插件(TDIG,TimeDigital)的設計和測試結果。粒子物理實驗中,飛行時間測量通常對探測器輸出信號定時甄別,再經(jīng)時間

5、數(shù)字化實現(xiàn)。第二章介紹時間測量方法,詳細闡述被廣泛采用的前沿定時和計數(shù)器型時間數(shù)字化技術,引入高性能TDC——HPTDC的介紹。由于前沿定時需要修正“時間游動”效應,常用的方法有電荷修正,幅度修正等。其中電荷修正方法在大型探測器系統(tǒng)中被采用,實現(xiàn)的前提是對信號進行電荷測量。第二章中介紹電荷測量技術,如波形采樣,電荷電壓轉(zhuǎn)換和電荷時間轉(zhuǎn)換等。詳細說明通過測量時間實現(xiàn)的電荷時間轉(zhuǎn)換和基于這個方法的TOT技術。第三章調(diào)研國內(nèi)外大型探測器系統(tǒng)讀

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