高密度電路板電磁頻譜異常頻率點(diǎn)識(shí)別方法研究.pdf

1、隨著電路技術(shù)進(jìn)入微型封裝、大規(guī)模集成、高密度組裝時(shí)代，板級(jí)電路的高密度復(fù)雜性以及多層性，使得電路節(jié)點(diǎn)的物理可訪問(wèn)性逐步削弱，電路和系統(tǒng)的可測(cè)試性急劇下降，測(cè)試開銷在板級(jí)電子電路總開銷中所占的比例不斷攀升，常規(guī)測(cè)試方法面臨著日益嚴(yán)重的測(cè)試?yán)щy。一種新的應(yīng)用電磁掃描技術(shù)對(duì)高密度電子電路故障檢測(cè)的方法正在興起，其中異常頻率點(diǎn)的識(shí)別是該檢測(cè)方法的首要問(wèn)題和關(guān)鍵技術(shù)。
　　本文首先詳細(xì)研究了檢測(cè)過(guò)程中電路板電磁掃描頻譜圖的特征，并針對(duì)電路板

2、電磁掃描頻譜圖中頻譜曲線的顏色與背景顏色區(qū)分比較明顯這一特征，設(shè)計(jì)了利用量化的HSI顏色模型提取頻譜曲線的方法；接著根據(jù)頻譜圖中頻譜曲線的用途及其連續(xù)性特征，提出了基于右向多鏈碼的頻譜曲線有效離散點(diǎn)的表示方法，得到標(biāo)準(zhǔn)板與待測(cè)板頻譜曲線有效離散點(diǎn)的鏈碼串；然后求取標(biāo)準(zhǔn)板與待測(cè)板頻譜曲線有效離散點(diǎn)的差值，得到頻譜差值曲線有效離散點(diǎn)，并利用該有效離散點(diǎn)生成連續(xù)的頻譜差值曲線；最后運(yùn)用小生境遺傳算法，并結(jié)合高密度電子電路板電磁掃描頻譜圖的特點(diǎn)