基于壓縮傳感的集成電路關鍵技術研究.pdf

1、隨著電子信息技術的發(fā)展，ADC已經成為了連接在模擬量和數字量之間的重要橋梁，廣泛應用于各個領域，直接決定著諸如雷達、測控、航空航天、醫(yī)療、圖像等現代化電子設備的性能指標。
　　基于ADC的模擬信號處理過程在采樣時依據的是奈奎斯特采樣定理，即采樣頻率要大于信號最高頻率的兩倍以上以保證信號的完整性。然而在許多工程應用中，由于奈奎斯特采樣定理的限制，對于超寬帶高速模擬信號，比如說射頻信號，所需的超高采樣頻率帶來了兩方面的問題:首先增加了

2、構成成本造成了極大的硬件資源浪費甚至已經超過了現有模數轉換器的極限，其次高速采樣所產生的大量數據進一步增加了存儲和傳輸的壓力。壓縮傳感理論的提出為這一問題提供了一種新的解決方法，由于其采樣頻率遠遠低于奈奎斯特采樣頻率，在信號處理領域備受關注，有著廣泛的開發(fā)與應用前景。
　　隨著半導體技術的不斷發(fā)展，高復雜度、高速、低功耗的集成電路設計已經成為發(fā)展趨勢，再加之特征尺寸的縮小，這些都對版圖設計提出了更高的要求。雖然器件尺寸的縮小提高了

3、晶體管的原始速度，但集成電路不同模塊之間的相互干擾以及版圖中的非理想性，正日以限制了這種系統(tǒng)的工作速度和精度，因此電路的版圖設計對最終整體電路性能的好壞有非常大的影響。
　　在版圖的設計當中，由于工藝制程上的非理想性，會不可避免地帶來一些寄生參數，產生一些寄生效應和噪聲。因此在版圖的設計當中需要遵循一些設計規(guī)則，采用適當的版圖技術來減小以上提到的非理想因素，以獲得能夠滿足性能要求的優(yōu)化版圖。
　　本文通過對壓縮傳感理論的基本