Mev重離子注入LiNbO-,3-和KTP波導(dǎo)的制備和研究.pdf_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩64頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶(hù)提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、激光的出現(xiàn)帶動(dòng)了光通信,光信息處理與光傳感等各種新技術(shù)的發(fā)展。集成光學(xué)的出現(xiàn)為光波傳輸和處理提供了理想的波導(dǎo)結(jié)構(gòu)形式。集成系統(tǒng)的基本元件是光波導(dǎo)器件,傳送信號(hào)的載波是光導(dǎo)波,對(duì)光信號(hào)的所有處理,都必須以光在薄膜中能夠傳導(dǎo)為前提,因此光波導(dǎo)在集成光學(xué)中起著重要作用。 離子注入可以改變材料的折射率,而基本不改變材料的光電特性,對(duì)晶體波導(dǎo)層結(jié)構(gòu)影響小,可以在較低溫度下進(jìn)行,對(duì)注入劑量和深度可以精確控制。由于具有以上優(yōu)點(diǎn),離子注入成為一

2、種有效的形成光波導(dǎo)的技術(shù)。 將電介質(zhì)鈮酸鋰(LN)、磷酸鈦氧鉀(KTP)等進(jìn)行離子注入處理,可制成光波導(dǎo)元件,此舉開(kāi)辟了離子注入技術(shù)在集成光學(xué)中的應(yīng)用。通過(guò)改變離子注入的能量和注入劑量,能夠控制光波導(dǎo)區(qū)的深度和折射率的大小。 在離子注入形成的波導(dǎo)中,最常用的是H、He等輕離子注入,注入劑量在1016量級(jí),一般形成多模波導(dǎo)。和輕離子注入相比,重離子注入有兩個(gè)優(yōu)點(diǎn),一是離子劑量相當(dāng)?shù)停?013到1014之間,這就使注入時(shí)間

3、大大縮短,因?yàn)橹仉x子能夠在比較低的劑量下就引起比較大的折射率改變;二是Mev級(jí)重離子注入形成的位壘在晶體表面下1到1.5μm之間,單模的波導(dǎo)比較容易形成。 人們已經(jīng)在光學(xué)晶體、玻璃、半導(dǎo)體材料等大量的光學(xué)材料中形成了光波導(dǎo)結(jié)構(gòu),其中LN晶體具有極好的光學(xué)、鐵電、電光、光折變等性能,廣泛應(yīng)用于集成光學(xué)和光波導(dǎo)器件中。KTP是一種性能優(yōu)良的非線性光學(xué)晶體材料,建立在KTP單晶基礎(chǔ)的光波導(dǎo)器件對(duì)集成光學(xué)將有極大的潛在應(yīng)用。 我

4、們對(duì)Ni2+注入Z切光學(xué)拋光的LN晶片的性質(zhì)做了一些研究。注入離子能量為3MeV,劑量從1×1013ions/cm2到9×1014ions/cm2。其中8×1014ions/cm2劑量的樣品,在632.8nm的波長(zhǎng)下形成了位壘型的光波導(dǎo),我們還觀察了導(dǎo)波模隨退火條件的變化,并首次對(duì)退火后的光波導(dǎo)進(jìn)行了傳輸損耗的測(cè)量,退火300℃,30min后,波導(dǎo)損耗從1.65dB/em下降到1.19dB/cm。 我們發(fā)現(xiàn)這些樣品在空氣中退火3

5、00℃,30min后,較低劑量下形成了僅有一個(gè)TM模式的增加型的波導(dǎo),較高的劑量時(shí)只有位壘型的波導(dǎo)存在。在注入劑量適當(dāng)?shù)臉悠防?,觀察到了消失模(missingmode)現(xiàn)象。我們?cè)囍忉屃藘煞N波導(dǎo)在不同情況下形成的原因,還測(cè)量了單能量低劑量重離子形成的單模增加型波導(dǎo)損耗大約為3dB/em??梢宰C明在適當(dāng)?shù)淖⑷牒屯嘶饤l件下,可以形成基于低劑量離子注入技術(shù)的低損耗表面波導(dǎo)器件。 我們還介紹了多能量低劑量的O2+注入LN形成折射率增高

6、型波導(dǎo)的研究,采用波長(zhǎng)為632.8nm和1539nm的激光測(cè)試了波導(dǎo)的暗模特性。能量為2.0、1.5和1.0Mev,劑量從1.5×1014到4×1014ions/em2的O2+注入LN晶體在632.8nm波長(zhǎng)下形成了異常光折射率增高的區(qū)域。采用端面耦合法,記錄了光從波導(dǎo)端面的輸出。我們還研究了更高多能量低劑量下的O2+注入LN晶體形成的波導(dǎo)特性。 關(guān)于KTP晶體波導(dǎo)的實(shí)現(xiàn)條件我們也有涉及。我們推斷Si+和O2+在KTP晶體中只能

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶(hù)所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶(hù)上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶(hù)上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶(hù)因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論