基于CCD圖像傳感器的高溫熔體表面溫度場(chǎng)測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、基于CCD圖像傳感器的非接觸式測(cè)溫技術(shù)因其具有獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)而成為高溫檢測(cè)領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)之一。本文以高溫熔體表面溫度場(chǎng)的測(cè)試為研究背景，系統(tǒng)地論述了基于CCD的非接觸式測(cè)溫技術(shù)，研究了測(cè)溫原理、測(cè)溫系統(tǒng)的構(gòu)建和測(cè)溫公式的實(shí)驗(yàn)標(biāo)定方法。 在研究了基于CCD的比色測(cè)溫原理的基礎(chǔ)上，指出熱輻射體的灰度變化和CCD圖像傳感器響應(yīng)波長(zhǎng)帶寬的非理想性是CCD比色測(cè)溫的主要誤差來(lái)源，消除或減少測(cè)溫誤差對(duì)CCD測(cè)溫裝置的實(shí)用化具有重要意義，同時(shí)也是

2、這種測(cè)溫裝置要解決的主要難點(diǎn)。本文提出，根據(jù)彩色CCD攝像機(jī)的功能和特性，為減少被測(cè)溫物體灰度變化引起的測(cè)溫誤差，可以采用CCD三色測(cè)溫方法，并介紹了其工作原理，給出了其溫度計(jì)算方法，指出對(duì)測(cè)溫公式中的比例系數(shù)K進(jìn)行分段標(biāo)定和插值修正可以減少CCD響應(yīng)波長(zhǎng)帶寬非理想性等因素引起的測(cè)溫誤差，并給出了分段標(biāo)定和插值修正的CCD三色測(cè)溫算法。理論分析表明，插值修正的CCD三色測(cè)溫方法能有效地減少測(cè)溫誤差。 在研究了測(cè)溫系統(tǒng)中各設(shè)備的結(jié)