小型機箱屏蔽效能測試用天線的研制.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著電子設備的發(fā)展，小型化成為了一種必然的趨勢。那么研究其屏敝效能自然也就有了必要性，然而現(xiàn)有的機箱屏蔽效能測試標準大都是用于2m以上的機箱，所以0.1m-2m的小型機箱屏蔽效能測試方法已成為了電磁兼容領域的重要研究內(nèi)容。
　　本文是在IEEE P299.1未正式發(fā)表的前提下進行的研究工作，主要研究內(nèi)容是小型機箱屏蔽效能測試用天線的研制，根據(jù)天線所測頻率的不同，將其分為磁場測試用天線，電場測試用天線以及半面場測試用天線。
　

2、　磁場測試用天線采用環(huán)天線的形式，其實現(xiàn)方式為點頻諧振方式，測試頻點為14kHz，50kHz和200kHz，整個研制過程包括初次級線圈的設計，匹配網(wǎng)絡的設計，PCB板的繪制，成品的調(diào)試以及最后的性能測試。
　　電場測試用天線采用桿天線的形式，仍舊采用點頻諧振方式，測試頻點為1MHz，18MHz，100MHz和400MHz，其研制過程包括匹配網(wǎng)絡的設計，諧振網(wǎng)絡的設計，PCB板的繪制，成品的調(diào)試以及性能測試。
　　平面場測試用

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