硬質(zhì)顆粒及有機(jī)污染物對(duì)電觸點(diǎn)可靠性影響的實(shí)驗(yàn)研究.pdf

1、電接觸學(xué)是專門研究系統(tǒng)電傳輸可靠性的科學(xué)。在電接觸故障中，由環(huán)境因素導(dǎo)致的占了很大一部分，其中塵土污染是影響電接觸可靠性的一個(gè)重要因素。
　　 首先，本文對(duì)塵土顆粒及有機(jī)污染物對(duì)電觸點(diǎn)可靠性影響的研究進(jìn)行總結(jié)。在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下，模擬硬質(zhì)塵土顆粒存在下電觸點(diǎn)的加速失效，進(jìn)行電觸點(diǎn)的靜態(tài)、動(dòng)態(tài)接觸電阻測(cè)量。結(jié)合接觸電阻測(cè)試結(jié)果與光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡和X射線能譜儀等表面微觀探測(cè)設(shè)備的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行失效機(jī)理分析。定義初始故障周期和觸點(diǎn)

2、壽命周期，應(yīng)用數(shù)理統(tǒng)計(jì)工具建立觸點(diǎn)壽命模型，對(duì)觸點(diǎn)壽命影響因素進(jìn)行分析。
　　 通過實(shí)驗(yàn)證實(shí)，石英顆粒在觸點(diǎn)界面間的存在形式為嵌入或破碎后嵌入。長(zhǎng)期微動(dòng)下，石英顆粒對(duì)接觸對(duì)產(chǎn)生磨粒磨損，破壞觸點(diǎn)鍍金層造成接觸區(qū)微動(dòng)腐蝕，使接觸電阻升高。改變接觸對(duì)載荷、石英顆粒粒徑和顆粒進(jìn)入接觸區(qū)次數(shù)可以改變初始故障周期和觸點(diǎn)壽命周期。在失效模擬實(shí)驗(yàn)中，為加速觸點(diǎn)失效應(yīng)選用小粒徑石英顆粒，低觸點(diǎn)載荷，以及增加塵土顆粒密度確保顆?？梢远啻芜M(jìn)入接觸區(qū)

3、。相反，若要增加觸點(diǎn)壽命，應(yīng)避免小粒徑石英顆粒進(jìn)入觸點(diǎn)界面，選用較大的正壓力，提高連接器密封等級(jí)降低塵土顆粒的密度。
　　 另一方面，建立了有機(jī)污染物與塵土顆粒的粘結(jié)模型，進(jìn)行粘著力的定性定量分析。初步測(cè)定存在—乳酸鈉膜層厚度使石英顆粒與金屬樣片間粘著力最大，在觸頭切向運(yùn)動(dòng)時(shí)更易跨過顆粒堆使顆粒進(jìn)入接觸區(qū)，從而加速電觸點(diǎn)的失效。
　　 失效模擬實(shí)驗(yàn)證實(shí)乳酸鈉與塵土顆粒結(jié)合可以加速電接觸失效。乳酸鈉對(duì)小粒徑石英顆粒粘著作用