近電場(chǎng)法向探針的設(shè)計(jì)與標(biāo)定.pdf

1、伴隨著電子器件的不斷減小,系統(tǒng)的集成度不斷提高,系統(tǒng)內(nèi)及部件之間的電磁干擾問題日益凸顯。電磁干擾不僅降低系統(tǒng)性能,還會(huì)對(duì)環(huán)境造成污染。電磁場(chǎng)近場(chǎng)成像儀能夠測(cè)量系統(tǒng)內(nèi)電磁輻射,確定電磁輻射源位置和幅值。近場(chǎng)探針是測(cè)試的主要部件,探針的性能決定探測(cè)的準(zhǔn)確性和精度。
　　本文首先介紹電磁兼容的相關(guān)知識(shí)及電磁場(chǎng)近場(chǎng)成像儀系統(tǒng),歸納總結(jié)了近場(chǎng)探針的種類及應(yīng)用,根據(jù)電磁場(chǎng)成像系統(tǒng)的工程應(yīng)用,提取探針的相應(yīng)性能參量。其次利用耦合原理分析法向電場(chǎng)

2、探針的工作機(jī)制,同時(shí)應(yīng)用有限元法的3D電磁場(chǎng)仿真軟件HFSS驗(yàn)證探針工作原理。最后經(jīng)過軟件仿真和實(shí)驗(yàn)兩種方法,對(duì)法向場(chǎng)探針的隔離度、空間分辨率、靈敏度、帶寬進(jìn)行分析,得出探針幾何結(jié)構(gòu)對(duì)探針各性能參量的影響曲線。
　　本文利用場(chǎng)分布已知的橫電磁波小室、微帶傳輸線對(duì)探針參數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)標(biāo)定。通過理論計(jì)算數(shù)據(jù)、軟件仿真數(shù)據(jù)、實(shí)驗(yàn)測(cè)量數(shù)據(jù)的比較與分析,表明設(shè)計(jì)的法向近電場(chǎng)探針(PEz1)具有良好的隔離度、空間分辨率、靈敏度及工作帶寬,并對(duì)實(shí)驗(yàn)