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文檔簡介
1、隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,各類光學(xué)系統(tǒng)對高精密光學(xué)元件的需求越來越多。光學(xué)元件的面形是影響光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的重要參數(shù),如何對其進(jìn)行非接觸、快速、現(xiàn)場檢測是光學(xué)元件加工中必須解決的重要問題。光學(xué)元件面形的非接觸式檢測有干涉法和刀口陰影法。干涉法對環(huán)境條件的要求較高,且現(xiàn)場測量的實現(xiàn)也比較困難,而這些恰恰是刀口陰影法的優(yōu)點。由于傳統(tǒng)刀口法只能進(jìn)行定性檢測,且需要觀察者憑經(jīng)驗主觀判斷,缺乏客觀性。因此,為了實現(xiàn)光學(xué)元件面形的非接觸、定量、現(xiàn)場檢測,
2、本文研究了一種基于計算機(jī)圖像處理的數(shù)字刀口檢測技術(shù)。在傳統(tǒng)的刀口法原理基礎(chǔ)上,把刀口儀的陰影圖像用CCD接收,并用計算機(jī)處理該陰影圖像,得到檢測的面形參數(shù)。主要研究內(nèi)容包括:
⑴分析了國內(nèi)外在光學(xué)元件面形檢測領(lǐng)域的研究現(xiàn)狀,介紹了光學(xué)元件面形的常用檢測方法,分析討論了各種方法在光學(xué)元件面形檢測中的優(yōu)點及其局限,闡明了研究數(shù)字刀口檢測技術(shù)課題的必要性。
⑵根據(jù)刀口檢測的原理,建立和完善了刀口法檢測光學(xué)元件面形的
3、數(shù)學(xué)模型。
⑶根據(jù)建立的數(shù)學(xué)模型,對刀口法檢測光學(xué)元件面形得到的陰影圖進(jìn)行了數(shù)值模擬,并用波像差理論對其進(jìn)行分析處理,驗證了該模型的正確性。
⑷經(jīng)過研究分析,確定了實驗方案,完成了實驗裝置設(shè)計,建立了數(shù)字刀口檢測的實驗裝置,編寫了一套刀口陰影圖的圖像處理和數(shù)據(jù)分析程序。
⑸通過實驗驗證,該實驗系統(tǒng)能夠恢復(fù)出完整的被檢測面形的三維圖像,獲得被檢面形質(zhì)量的有關(guān)參數(shù)。
⑹結(jié)合具體的實驗分
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