激光干涉測(cè)量技術(shù)及在電光陶瓷檢測(cè)中的應(yīng)用.pdf

1、無損干涉測(cè)量法結(jié)合圖像處理、信息光學(xué)技術(shù)，在缺陷檢測(cè)、材料性能監(jiān)測(cè)等方面的研究，是目前研究熱點(diǎn)之一。本論文研究了基于光纖系統(tǒng)的電子散斑干涉技術(shù)和數(shù)字全息干涉技術(shù)，建立了相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，改進(jìn)了光學(xué)圖像處理中使用的各種算法，并對(duì)實(shí)驗(yàn)樣本進(jìn)行了有效的監(jiān)測(cè)和分析。 電子散斑干涉技術(shù)(ESPI)是在分析物體變形和振動(dòng)的各種光學(xué)方法中最為實(shí)用和有效的方法之一。ESPI的主要優(yōu)勢(shì)在于它記錄全息干涉圖和分析數(shù)據(jù)的簡易性以及實(shí)時(shí)觀察物體的可能性。

2、而且，通過相位測(cè)量算法可以獲得定量的相位信息。在本文中，我們先后建立了空間電子散斑干涉系統(tǒng)和光纖電子散斑干涉系統(tǒng)。實(shí)時(shí)采集散斑圖像并對(duì)圖像進(jìn)行處理分析。選擇并改進(jìn)各種圖像后處理算法，集成為友好的散斑圖像采集及分析軟件系統(tǒng)。 在此基礎(chǔ)上，我們建立了數(shù)字全息干涉測(cè)量系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)全息圖的記錄和重現(xiàn)。針對(duì)圖像重現(xiàn)和解包裹的問題，通過有效的算法良好的重現(xiàn)了物光特性。結(jié)合電光陶瓷PLZT樣本的實(shí)際檢測(cè)，監(jiān)測(cè)PLZT全場(chǎng)相位的變化，通過分析其在