組合電路測試生成算法研究.pdf

1、集成電路是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中最重要的部分，承擔(dān)著運(yùn)算和存儲的功能。集成電路的應(yīng)用范圍覆蓋了軍工、民用的幾乎所有的電子設(shè)備?？梢哉f集成電路是計(jì)算機(jī)業(yè)、數(shù)字家電業(yè)、通信等行業(yè)的絕對“心臟”。 隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，集成電路的規(guī)模越來越大，結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜，集成電路的測試生成變得越來越難，花費(fèi)的時(shí)間也越來越多。對于大規(guī)模的集成電路，傳統(tǒng)的測試生成算法已不再適用，尋找新型、有效的測試生成算

2、法已成為一個(gè)重要的研究課題。 組合電路單固定型故障模型是國際上研究最早，也是采用最普遍的故障模型。實(shí)踐表明，只要單固定型故障的覆蓋率達(dá)到90[％]以上，那么單固定型故障的測試集也能檢測其它類型的故障，例如多故障和橋接故障。又因?yàn)橄到y(tǒng)在調(diào)試階段發(fā)生多故障的概率較大，但在使用階段發(fā)生單固定型故障的可能性要大得多，因此，單固定型故障的測試生成問題一直是國際上研究的熱點(diǎn)。從理論上講，單固定型故障的測試生成問題早在六十年代就己經(jīng)解決了。然

3、而，理論分析證明，自動(dòng)測試生成的時(shí)間復(fù)雜性是個(gè)NP完全問題。隨著電路規(guī)模的增大，測試生成越來越困難。因此，加速測試生成，提高測試生成效率一直為人們所關(guān)注。 本文采用單固定型故障模型，對組合電路的測試生成進(jìn)行了研究。以提高故障覆蓋率和減小測試生成時(shí)間為主要目標(biāo)，重點(diǎn)研究了以下內(nèi)容： 1．綜述了測試生成技術(shù)的研究現(xiàn)狀和發(fā)展概況。 2．研究了組合電路中非魯棒性路徑時(shí)滯故障的測試生成算法。本文將采用路徑分支轉(zhuǎn)換技術(shù)，

4、用較成熟的單固定型故障測試生成算法對組合電路中非魯棒性路徑時(shí)滯故障生成測試矢量，該算法能夠避免“指數(shù)爆炸”，提高故障覆蓋率，減小測試生成時(shí)間，改善測試生成效率。 3．研究了組合電路基于搜索狀態(tài)控制的測試生成算法。EST算法第一次提出了測試矢量搜索狀態(tài)的概念，并采用E-前沿來描述測試矢量搜索的不同狀態(tài)。通過引入狀態(tài)等價(jià)的概念，縮小了測試碼搜索空間。本文通過對搜索狀態(tài)等價(jià)的研究，得出了基于搜索狀態(tài)控制的測試生成算法。該方法應(yīng)用E-