連續(xù)多次高壓氧對新生大鼠缺氧缺血腦損傷腦皮質(zhì)細胞線粒體膜電勢的影響.pdf

1、目的:了解連續(xù)多次高壓氧（HBO）干預對新生SD大鼠缺氧缺血性腦損傷(HIBD)后腦皮質(zhì)細胞線粒體膜電勢（△ψm）的影響。
　　方法:7日齡SD大鼠150只，隨機分為正常對照組、HIBD組、HIBD后高壓氧治療組（HIBD+HBO），后兩組按Rice法制作新生大鼠HIBD模型（大腦左側為損傷側）。HIBD+HBO組動物在缺氧缺血(HI)后予以1～7天的HBO治療，HIBD組及HIBD+HBO組動物按照處死時間點再分為1d，2d，3

2、d，4d，5d，6d，7d亞組（各組n=10）。各組動物斷頭處死后，制備腦皮質(zhì)細胞懸液，給予△ψm標記物羅丹明123(Rod123)孵育。用流式細胞儀檢測Rho123的平均熒光強度(MFL)，并以該MFL為△ψm計量單位，分別記錄各組左側大腦皮質(zhì)△ψm絕對值進行統(tǒng)計學分析。
　　結果:(1)正常對照組腦皮質(zhì)細胞△ψm為（4.66±0.80）MFL;
　　(2) HIBD組各時間點腦皮質(zhì)細胞△ψm均低于正常組，且差異均具有統(tǒng)計

3、學意義(P＜0.05)，最低為1d時間點時（3.02±0.48）MFL，2d后△ψm較前稍有升高，但2～7d時間點之間△ψm無統(tǒng)計學意義;
　　(3) HIBD+HBO組各時間點△ψm亦均低于正常對照組，最低為1d時間點時（2.32±0.77）MFL，但各時間點△ψm呈現(xiàn)先明顯降低再逐漸升高的變化規(guī)律，其中1～4d時間點的差異具有統(tǒng)計學意義(P＜0.05)，而5～7d時間點△ψm均接近正常組且差異無統(tǒng)計學意義(P＞0.05)，最高

4、為6d時間點時（4.55±1.41）MFL。
　　(4) HIBD+HBO組與HIBD組相比較，1～3d時間點HIBD+HBO組△ψm低于HIBD組且差異具有統(tǒng)計學意義(P＜0.05)，4、5d時間點△ψm兩組間無統(tǒng)計學意義，6～7d時間點HIBD+HBO組△ψm高于HIBD組且差異具有統(tǒng)計學意義(P＜0.05)。
　　結論:HI對新生大鼠腦皮質(zhì)細胞產(chǎn)生的線粒體功能障礙可持續(xù)較長時間;HBO干預在HIBD早期并不能改善線粒體