基于LABVIEW的射頻標(biāo)簽天線阻抗測(cè)量研究.pdf

1、測(cè)量對(duì)科學(xué)的發(fā)展是非常重要和必需的,甚至可以說(shuō)沒(méi)有測(cè)量就沒(méi)有科學(xué)。眾所周知在電信號(hào)的直流或低頻段,電壓、電流是電信號(hào)的基本被測(cè)參量,而在射頻段的應(yīng)用技術(shù)中射頻標(biāo)簽阻抗測(cè)量像電壓測(cè)量一樣重要。隨著射頻識(shí)別技術(shù)的飛速發(fā)展,對(duì)射頻標(biāo)簽阻抗準(zhǔn)確測(cè)量的要求也越來(lái)越高。本文正是根據(jù)標(biāo)簽阻抗測(cè)量的重要性,主要研究和實(shí)現(xiàn)了基于LabVIEW的高精度、易測(cè)試的射頻標(biāo)簽阻抗測(cè)量。
　　 (1)通過(guò)分析射頻識(shí)別技術(shù)的發(fā)展和研究現(xiàn)狀,以及UHF頻段的R

2、FID原理,指出了射頻標(biāo)簽阻抗測(cè)量的重要性及本課題的研究理念。
　　 (2)詳細(xì)介紹了虛擬儀器的概念與特點(diǎn)、發(fā)展與演變、構(gòu)建技術(shù)。并對(duì)LabVIEW開(kāi)發(fā)平臺(tái)進(jìn)行深入的研究和探討,其中包括了圖形化編程語(yǔ)言、VI(VirtualInstrument)的概念、LabVIEW軟件的特點(diǎn)以及LabVIEW程序設(shè)計(jì)的一般過(guò)程。
　　 (3)從天線的輻射場(chǎng)特性出發(fā),給出了反射調(diào)制式RFID系統(tǒng)應(yīng)用的條件,即天線的遠(yuǎn)場(chǎng)工作條件。系統(tǒng)闡述