微納VO-,2-薄膜特性及其應用研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、高靈敏度的非致冷紅外焦平面的出現(xiàn)被認為是近二十多年來紅外工程的最了不起的成就。相比于致冷型光子探測器,非致冷型探測器具有成本低、體積小、重量輕、功耗小、可靠性高等方面的優(yōu)點,引起了紅外成像應用方面的廣泛的關(guān)注。 氧化釩微測輻射熱計是一種非致冷紅外熱探測器,它采用與標準的互補型金屬氧化物半導體準CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor-CMOS)工藝兼容的表面微機械加工工藝,將陣列探

2、測器與讀出電路單片集成。目前已有像元面積25μm×25μm、陣列規(guī)模640×480的氧化釩微測輻射熱計,其噪聲等效溫差接近12mk。但是微測輻射熱計的性能改善還有很大的空間,特別是改善熱敏材料的性能。 本文圍繞微測輻射熱計通常使用的材料二氧化釩(Vanadium Dioxide-VO2)進行研究,制備了微米及納米結(jié)構(gòu)VO2薄膜,研究了兩種材料的性能及其應用,重點對兩種材料在紅外探測方面的應用進行了研究。主要的研究成果如下:

3、 (1)進行了微米結(jié)構(gòu)VO2薄膜研制工作。通過磁控濺射方法制備的該薄膜具有1~2μm平均晶粒度,相變溫度為68℃,在半導體區(qū)的電阻溫度系數(shù)(Temperature coefficient of Resistance-TCR)為-2.2%/K。 (2)開展了納米結(jié)構(gòu)VO2薄膜研究工作。該薄膜通過離子束濺射和后退火工藝制備,對薄膜的特性研究表明:薄膜晶粒度為8nm,35℃發(fā)生相變溫度,在材料的半導體相區(qū)TCR為-7%/K,較微米結(jié)

4、構(gòu)熱敏VO2的TCR高3倍多。 (3)制作了微米和及納米VO2線列128元紅外探測器,并對兩者的紅外探測性能進行了對比測試。測試結(jié)果表明:納米 VO2線列探測器的紅外響應性能較微米VO2 線列探測器的紅外響應性能得到了很大的提高,前者為后者的2~3倍。 (4)研制了以微米VO2薄膜為傳感材料,聚合物苯并環(huán)丁烯(Benzocyclobutene- BCB)為柔性襯底的柔性微測輻射熱計。對器件的測試表明:在800K的黑體輻照

5、、3Hz斬波頻率下,器件的響應率和探測率分別為7.4×103V/W和6.9×107cmHz1/2/W。 (5)完成了微米VO2陣列(32×32)微測輻射熱計的研制工作,器件的制作工藝與CMOS工藝完全兼容。測試表明:在1V的偏壓下,器件的像元響應率和噪聲等效溫差功率的典型值分別為1.47×104 W/K、4.14×10-10W。 (6)研究了低溫相變納米VO2薄膜智能窗在可見光區(qū)低透過率的改善方法。通過在納米VO2智能窗

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