開(kāi)題報(bào)告-前放電路專用測(cè)試設(shè)備

1、<p>　　畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）開(kāi)題報(bào)告</p><p><b>　　（學(xué)生填表）</b></p><p>　　院系：電子信息工程學(xué)院 2012年03月9日</p><p>　課題名稱前放電路專用測(cè)試設(shè)備</p><p>　學(xué)生姓名專業(yè)班級(jí)自動(dòng)化084課題

2、類型硬件設(shè)計(jì)</p><p>　指導(dǎo)教師職 稱講師課題來(lái)源科研</p><p>　設(shè)計(jì)（或研究）的依據(jù)與意義前放電路是指把音頻（AUX、MIC）信號(hào)放大至功率放大器所能接受的輸入范圍。前放電路功能有兩個(gè)：一是要選擇所需要的音源信號(hào)，并放大到額定電平；二是要進(jìn)行各種音質(zhì)控制，以美化聲音。組成前放電路的基本組成有：音源選擇、輸入放大和音質(zhì)控制等電路。音源選擇電路的作用是選擇所需的音源信號(hào)

3、送入后級(jí)，同時(shí)關(guān)閉其他音源通道。輸入放大器的作用是將音源信號(hào)放大到額定電平，通常是1V左右。音質(zhì)控制的作用是使音響系統(tǒng)的頻率特性可以控制，以達(dá)到高保真的音質(zhì)；或者根據(jù)聆聽(tīng)者的愛(ài)好，修飾與美化聲音。廣義地說(shuō)，前放電路包括一切對(duì)初始信號(hào)進(jìn)行選擇，放大，以及優(yōu)化修飾的電路，特別是對(duì)初始信號(hào)的選擇和放大。結(jié)合本專業(yè)的所學(xué)以及工業(yè)控制現(xiàn)場(chǎng)，很多初始信號(hào)，例如傳感器輸出信號(hào)，都是需要先進(jìn)行濾波放大處理以后才適于后續(xù)的傳輸，使用，所以對(duì)于信號(hào)進(jìn)行初加

4、工的前放電路，其性能的優(yōu)劣將直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的綜合性能，那么對(duì)前放電路的進(jìn)行相關(guān)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試就顯得極其重要，不但可以使使用者清楚地了解設(shè)備的適用范圍，避免出現(xiàn)不符合技術(shù)要求的數(shù)據(jù)進(jìn)入后續(xù)的信息處理電路，產(chǎn)生誤動(dòng)作，甚至出現(xiàn)事故；也可以為器材生產(chǎn)商提供必要</p><p>　2. 國(guó)內(nèi)外同類設(shè)計(jì)（或同類研究）的概況綜述測(cè)試既是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中的一環(huán)，也是集成電路產(chǎn)品驗(yàn)證出廠的關(guān)鍵，由于測(cè)試技術(shù)含量高、知識(shí)密集，一

5、直是我國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的制約因素。近幾年來(lái)，對(duì)于剛剛提速的國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體業(yè)來(lái)說(shuō)，其測(cè)試能力相對(duì)IC設(shè)計(jì)、制造、封裝，這卻是最薄弱的一環(huán)。芯片測(cè)試是集成電路產(chǎn)業(yè)不可或缺的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，而測(cè)試時(shí)間和測(cè)試效能是制約集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的兩個(gè)重要因素。與迅速發(fā)展的設(shè)計(jì)業(yè)相比之下，我國(guó)測(cè)試業(yè)的發(fā)展卻相對(duì)滯后，目前能夠獨(dú)立承擔(dān)專業(yè)測(cè)試服務(wù)的公司寥寥無(wú)幾，不能滿足眾多IC設(shè)計(jì)公司的驗(yàn)證分析和產(chǎn)業(yè)化測(cè)試需求，已日益成為我國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的一個(gè)瓶頸。目前，對(duì)

6、于高端集成電路產(chǎn)品，主要還是送到國(guó)外去測(cè)試，國(guó)內(nèi)的測(cè)試能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)滿足不了市場(chǎng)的需求。面對(duì)當(dāng)前我國(guó)的測(cè)試行業(yè)現(xiàn)狀，一種基于虛擬儀器的測(cè)試技術(shù)不斷發(fā)展，這充分的利用了計(jì)算機(jī)硬件資源的超高性價(jià)比，以及通用性強(qiáng)的特點(diǎn)，使得測(cè)試工作變得相對(duì)容易，目前有不少關(guān)于虛擬儀器結(jié)合相關(guān)接口板卡為基礎(chǔ)的測(cè)試平臺(tái)，本研究對(duì)象的前置放大電路也有不少人從事相關(guān)的測(cè)試，但是就我所見(jiàn)，有些測(cè)試設(shè)備混亂，有些可以精簡(jiǎn)，而有些顯得不足，甚至一些重要的參數(shù)</p>

7、<p>　3. 課題設(shè)計(jì)（或研究）的內(nèi)容初步計(jì)劃采用NI公司PXI設(shè)備建立一套專用于前放電路的測(cè)試設(shè)備，具體硬件電路的選擇后期再做充分的論證。設(shè)備具有可編程供電單元、電路動(dòng)態(tài)性能測(cè)試單元和噪聲測(cè)試單元等。設(shè)備能夠產(chǎn)生高頻率的正弦波形，能夠完成高速數(shù)據(jù)采集和分析，實(shí)現(xiàn)放大器動(dòng)態(tài)性能測(cè)試；另外測(cè)試設(shè)備還能夠?qū)/D轉(zhuǎn)換芯片實(shí)現(xiàn)AD轉(zhuǎn)換有效位數(shù)測(cè)試。設(shè)計(jì)一套完整的測(cè)試設(shè)備，能夠?qū)崿F(xiàn)如下功能；1、測(cè)試放大器放大倍數(shù)；2、測(cè)試放大器

8、帶寬；3、測(cè)試放大器幅頻特性，并繪制波特圖；4、測(cè)試放大器信噪比，計(jì)算放大器噪聲大??；5、A/D轉(zhuǎn)換芯片轉(zhuǎn)換結(jié)果可通過(guò)RS422接口與計(jì)算機(jī)通訊，測(cè)試設(shè)備可對(duì)AD轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行有效位數(shù)計(jì)算，估計(jì)AD轉(zhuǎn)換芯片有效位數(shù)；</p><p>　4. 設(shè)計(jì)（或研究）方法（方案）首先對(duì)測(cè)試對(duì)象進(jìn)行必要的抽象，為一個(gè)可以方便而有效地對(duì)放大器進(jìn)行參數(shù)測(cè)試工作而建立的一套測(cè)試設(shè)備，初步思路如下圖：對(duì)于附屬電路，如信號(hào)發(fā)生模塊，供電模

9、塊，A/D轉(zhuǎn)化模塊，以及相應(yīng)的測(cè)試電路沒(méi)有畫(huà)出，這里僅僅畫(huà)出了簡(jiǎn)單的流程圖。對(duì)于前置放大電路的測(cè)試，需要一套比被測(cè)放大器精度更高，性能更優(yōu)越的設(shè)備來(lái)完成，也就是說(shuō)測(cè)試系統(tǒng)的放大性能指標(biāo)要比被測(cè)放大器精密至少一兩個(gè)數(shù)量級(jí)以上。一套理想的測(cè)試系統(tǒng)，應(yīng)該有這樣的性能，對(duì)噪聲，干擾，溫度，電網(wǎng)波動(dòng)等有絕對(duì)的抵抗能力，本身又沒(méi)有任何的信號(hào)失真，并能夠快速而高精度地處理數(shù)據(jù)，而且方便地顯示，另外除了可以自動(dòng)地完成預(yù)定的測(cè)試任務(wù)外，還可以方便地進(jìn)行人

10、機(jī)交互?；赟imple is Best的設(shè)計(jì)理念，在考慮性能的同時(shí)還應(yīng)該注意整個(gè)設(shè)備的簡(jiǎn)單性，另外，為了取得更好的綜合性能，采取供電模塊與測(cè)試模塊分離的方式，每一個(gè)模塊有足夠的內(nèi)斂性是極其必要的。具體說(shuō)來(lái)，首先由信號(hào)發(fā)生模塊產(chǎn)生系統(tǒng)需要的測(cè)試信號(hào)，然后分別采樣前放電路（這里用放大器代替）的輸入與輸出，進(jìn)行必要的轉(zhuǎn)換后送入計(jì)算機(jī)，進(jìn)行運(yùn)算處理，然后將結(jié)果顯示出來(lái)。對(duì)于信號(hào)的處</p><p>　5. 實(shí)施計(jì)劃第4

11、-5周 開(kāi)題報(bào)告撰寫(xiě)，答辯。第6-7周 調(diào)研完成方案論證工作。第8-10周 初步完成總體方案設(shè)計(jì)。第11-12周 完成具體功能設(shè)計(jì)內(nèi)容。第13-15周 完成算法研究、軟件設(shè)計(jì)，進(jìn)行調(diào)試工作。第16-17周 撰寫(xiě)論文，準(zhǔn)備答辯。</p><p>　指導(dǎo)教師意見(jiàn)指導(dǎo)教師簽字： 年 月 日<