地質工作方法

1、1地質測量和地質剖面測量地質測量和地質剖面測量1.11.1地質測量、地質草測和地質簡測的基本概念地質測量、地質草測和地質簡測的基本概念1.1.11.1.1地質測量地質測量一般所說的地質測量是指“正規(guī)的”或“正式的”地質測量，是一種在填圖單位、上圖地質體的尺度、觀察密度、地質點定位精度、地形底圖均符合以下2.4條要求的地質測量?！罢降摹钡刭|測量用于已有較明晰資源前景的普查區(qū)和詳查、勘探礦區(qū)。1.1.21.1.2地質簡測地質簡測地質簡測是

2、對測區(qū)內不同地質體、地質界線測量要求有所區(qū)別的地質測量。對被認為是重要的地質體和地質界線，觀察點的密度和定位精度要求同“正式的”地質測量。對被認為是不重要的地質單元可以歸并，觀察點的密度可適當放稀，地質點用手持GPS或半儀器法定位。地質簡測用于預查和普查階段。。1.1.31.1.3地質草測地質草測地質草測在填圖單位和上圖地質體的尺度要求上與“正式的”地質測量相同，但在地形底圖、觀察密度和或一般地質點定位精度上可適當放寬的地質測量。地質草

3、測用于資源前景尚不明晰的預查區(qū)和普查區(qū)。地質草測時可以：（1）地質觀測點的密度在正規(guī)地質測量所要求標準的0.51倍間。（2）大于1：1萬比例尺地質測量的地質點是用手持GPS或半儀器（地質羅盤、測繩等）法定位，但礦體邊界等重要地質界線除外。（3）地質測量所使用的地形底圖是比地質測量比例尺小1倍左右的地形圖放大后經(jīng)計算機數(shù)字化處理制作的同地質測量比例尺的地形圖1.21.2地質測量的比例尺地質測量的比例尺（1）屬于區(qū)域地質調查的地質測量目前使

4、用的比例尺主要是1：5萬的和1：25萬的。以往的測量成果中還有1：20萬、1：50萬和1：100萬的。（2）在礦產地質勘查中，地質測量的比例尺選擇要考慮勘查階段、研究程度、工作區(qū)大小、礦床規(guī)模等眾多因素，一般：預查階段：1：5萬1：5000；普查階段1：2.5萬1：2000；詳查階段1：1萬1：2000；勘探階段1：50001：500。1.31.3地質測量方法地質測量方法（1）穿越（地質界線）法。（2）追索（地質界線）法。（3）全面法，

5、即（1）、（2）兩法結合使用。地質測量方法依據(jù)測量比例尺、地質界線分布特征、地形條件等因素選擇。1.41.4地質測量的技術要求地質測量的技術要求1.4.11.4.1填圖單元填圖單元應根據(jù)測量比例尺、控礦地質因素、礦區(qū)各地質單元的分布情況和勘查要求合理確定地質填圖單元。填圖單元包括：（1）地層單元或巖性。（2）不同期、次的巖漿巖種類、巖漿巖相。（3）地質構造形跡，包括褶皺軸跡、斷層、破碎帶、韌性剪切帶等。（4）蝕變帶、礦化帶、礦體等。表1

6、3地質觀察點點位充許最大誤差(m)比例尺地質體1:100001:10000草圖1:50001:20001:2000草圖1:1000一般地質體10202030510244612礦體51010202.5512240.51（2）實測地質剖面應有充分的代表性，能基本反映測區(qū)內的地層、巖石、構造類型和它們之間的穿插關系。剖面應：垂直或大致垂直測區(qū)地層、主構造行跡走向；橫穿測區(qū)內所有地層單元、主要構造行跡和主要侵入巖體。一條不夠，可作兩條或多條；直

7、線不行，可以折線。（3）實測地質剖面用半儀器法測制。比例尺不小于地質測量比例尺，圖上寬1mm及以上的地質體必須上圖，具特殊意義的地質體須放大表示。（4）測制剖面時要填寫實測地質剖面記錄表（表35），做好地質點描述，采集巖礦鑒定標本分析樣品并做好采樣登記。（5）繪制實測地質剖面圖并附簡短文字說明包括實測地質剖面工作概況及地質概況。1.4.61.4.6對地形底圖的要求（1）須是正式出版的或經(jīng)隊級以上單位驗收合格的。（2）正規(guī)測量的地形底圖的

8、比例尺一般應與地質測量比例尺相同。（3）使用放大的小于地質測量比例尺的地形圖進行地質草測時，須經(jīng)業(yè)主批準并在設計書（合同書）中寫明。（4）對于時間久遠的以往地形圖，應根據(jù)地形變化情況確定是直接使用、修測后使用或放棄不用。1.4.71.4.7操作要求操作要求（1）應用紅油漆在巖石上實地標注地質觀察點點位和編號。（2）地質測量工作不僅僅是勾畫地質界線，更重要的是基礎地質研究和找礦。通過地質測量應不同程度地查明：測區(qū)地層、構造、巖漿巖、變質作

9、用特征；成礦地質條件和控礦因素；礦體、礦化帶的分布規(guī)律和找礦標志。要特別注意多量取地質面的產狀；特別注意研究不同地質體接觸關系、接觸面的地質特征、接觸面附近巖石礦物組成和構造的變化。（3）實地勾繪地質界線，注意地質界線平面形態(tài)的“V”字形規(guī)則（V字形法則：巖層傾向與地形坡向相反，巖層界線與地形等高線V字形彎曲方向相同，但巖層界線比地形等高線的V字形彎曲程度小相反相同；巖層傾向與地形坡向相同，巖層傾角比坡角小，巖層界線與地形等高線的V字形