峰值電流限流的優(yōu)化方案_第1頁
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1、峰值電流限流的優(yōu)化方案峰值電流限流的優(yōu)化方案電子設(shè)計應(yīng)用摘要：通過采用峰值電流限流的方法電流限制功能可以使電感電流在超出閾值時抑制電源轉(zhuǎn)換器的開關(guān)電流。但是由于比較器延時有效閾值削減問題通常難以避免。本文將針對這一問題介紹一種峰值電流限流的優(yōu)化方案。引言電流限制是開關(guān)式電源轉(zhuǎn)換器的一個重要保護功能它可以在電流限制模式下限制可用的輸出電流以防止出現(xiàn)系統(tǒng)故障。峰值電流限制是目前業(yè)內(nèi)普遍采用的電流限制方法。每當電感的電流IL超出閾值IV時電源

2、轉(zhuǎn)換器的開關(guān)(如圖1所示)便會關(guān)斷以制止電流從輸入電壓源VIN注入直至IL小于IV時開關(guān)才會重新開通。由于輸出電流IOUT總是等于IL的平均值(在工作期間IL呈線型紋波)故在電流限制模式下的IOUT(CLDES)為：(4)圖1降壓電源轉(zhuǎn)換器從式(4)中可清楚地看到INIV由增大L或減少tD來降低。可是高級電源轉(zhuǎn)換器為減少元件尺寸已傾向于朝著高頻化發(fā)展。因此預(yù)計L會比較小。另一方面tD的減少會導(dǎo)致比較器的轉(zhuǎn)換速率增大這會增加功率的損耗從而

3、降低整體的轉(zhuǎn)換效率。再者工作頻率有可能超出1MHz使開關(guān)周期達至1ms。毫無疑問tD的減少意味著比較器的帶寬很高這在現(xiàn)實中很難實現(xiàn)。由此可以看出在這種情況下較小的L會被使用加上tD也與開關(guān)周期相匹配所以IN將會在工作頻率較高時降低。結(jié)果IOUT(CL)會在工作頻率較高時明顯小于IOUT(CLDES)并會在低工作頻率時維持正常水平。盡管IV可設(shè)定為較高值以確保IOUT(CL)可達到IOUT(CLDES)但這種超常的設(shè)計會為MOSFET帶來

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