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文檔簡介
1、《現(xiàn)代材料分析方法現(xiàn)代材料分析方法》期末試卷期末試卷1一、單項選擇題(每題2分,共10分)1成分和價鍵分析手段包括【b】(a)WDS、能譜儀(EDS)和XRD(b)WDS、EDS和XPS(c)TEM、WDS和XPS(d)XRD、FTIR和Raman2分子結(jié)構(gòu)分析手段包括【a】(a)拉曼光譜(Raman)、核磁共振(NMR)和傅立葉變換紅外光譜(FTIR)(b)NMR、FTIR和WDS(c)SEM、TEM和STEM(掃描透射電鏡)(d)X
2、RD、FTIR和Raman3表面形貌分析的手段包括【d】(a)X射線衍射(XRD)和掃描電鏡(SEM)(b)SEM和透射電鏡(TEM)(c)波譜儀(WDS)和X射線光電子譜儀(XPS)(d)掃描隧道顯微鏡(STM)和SEM4透射電鏡的兩種主要功能:【b】(a)表面形貌和晶體結(jié)構(gòu)(b)內(nèi)部組織和晶體結(jié)構(gòu)(c)表面形貌和成分價鍵(d)內(nèi)部組織和成分價鍵5下列譜圖所代表的化合物中含有的基團包括:【c】(a)–CH、–OH和–NH2(b)–CH
3、、和–NH2(c)–CH、和C=C(d)–CH、和CO二、判斷題(正確的打√,錯誤的打,每題2分,共10分)1透射電鏡圖像的襯度與樣品成分無關。()2掃描電鏡的二次電子像的分辨率比背散射電子像更高。(√)3透鏡的數(shù)值孔徑與折射率有關。(√)4放大倍數(shù)是判斷顯微鏡性能的根本指標。()5在樣品臺轉(zhuǎn)動的工作模式下,X射線衍射儀探頭轉(zhuǎn)動的角速度是樣品轉(zhuǎn)動角速度的二倍。(√)三、簡答題(每題5分,共25分)1.掃描電鏡的分辨率和哪些因素有關?為什
4、么這些X射線被Si(Li)半導體探測器吸收,進入探測器中被吸收的每一個X射線光子都使硅電離成許多電子—空穴對,構(gòu)成一個電流脈沖,經(jīng)放大器轉(zhuǎn)換成電壓脈沖,脈沖高度與被吸收的光子能量成正比。最后得到以能量為橫坐標、強度為縱坐標的X射線能量色散譜。在波譜儀中,在電子束照射下,樣品發(fā)出所含元素的特征x射線。若在樣品上方水平放置一塊具有適當晶面間距d的晶體,入射X射線的波長、入射角和晶面間距三者符合布拉格方程時,這個特征波長的X射線就會發(fā)生強烈衍
5、射。波譜儀利用晶體衍射把不同波長的X射線分開,即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格方程的2θ方向上被檢測器接收,最后得到以波長為橫坐標、強度為縱坐標的X射線能量色散譜。3電子束與試樣物質(zhì)作用產(chǎn)生那些信號?說明其用途。(1)二次電子。當入射電子和樣品中原子的價電子發(fā)生非彈性散射作用時會損失其部分能量(約30~50電子伏特),這部分能量激發(fā)核外電子脫離原子,能量大于材料逸出功的價電子可從樣品表面逸出,變成真空中的自由電子,即二次電子。二次電
6、子對試樣表面狀態(tài)非常敏感,能有效地顯示試樣表面的微觀形貌。(2)背散射電子。背散射電子是指被固體樣品原子反射回來的一部分入射電子。既包括與樣品中原子核作用而形成的彈性背散射電子,又包括與樣品中核外電子作用而形成的非彈性散射電子。利用背反射電子作為成像信號不僅能分析形貌特征,也可以用來顯示原子序數(shù)襯度,進行定性成分分析。(3)X射線。當入射電子和原子中內(nèi)層電子發(fā)生非彈性散射作用時也會損失其部分能量(約幾百電子伏特),這部分能量將激發(fā)內(nèi)層電
7、子發(fā)生電離,失掉內(nèi)層電子的原子處于不穩(wěn)定的較高能量狀態(tài),它們將依據(jù)一定的選擇定則向能量較低的量子態(tài)躍遷,躍遷的過程中將可能發(fā)射具有特征能量的x射線光子。由于x射線光子反映樣品中元素的組成情況,因此可以用于分析材料的成分。七、問答題1根據(jù)光電方程說明X射線光電子能譜(XPS)的工作原理。(5分)以MgKα射線(能量為1253.8eV)為激發(fā)源,由譜儀(功函數(shù)4eV)測某元素電子動能為981.5eV,求此元素的電子結(jié)合能。(5分)答:在入射
8、X光子的作用下,核外電子克服原子核和樣品的束縛,逸出樣品變成光電子。入射光子的能量hυ被分成了三部分:(1)電子結(jié)合能EB;(2)逸出功(功函數(shù))ФS和(3)自由電子動能Ek。hυ=EBEKФS因此,如果知道了樣品的功函數(shù),則可以得到電子的結(jié)合能。X射線光電子能譜的工資原理為,用一束單色的X射線激發(fā)樣品,得到具有一定動能的光電子。光電子進入能量分析器,利用分析器的色散作用,可測得起按能量高低的數(shù)量分布。由分析器出來的光電子經(jīng)倍增器進行信
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