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文檔簡介
1、永磁機構真空斷路器有著很高的機械可靠性,其結構簡單,壽命長,動作時間分散性較小,是一種“免(少)維護的斷路器”,能夠較理想的應用到電網(wǎng)的各個場合。但當環(huán)境溫度變化時,由于電容容量、電容ESR(等效串聯(lián)電阻)、永磁機構線圈電阻、永磁機構保持力、機械裝置的卡塞等都會產(chǎn)生變化,斷路器動作時間將會隨著溫度的改變而變化,這一趨勢較難通過理論分析得出。在一些對動作時間要求較高的應用中,如永磁機構同步關合技術,需要對溫度的影響加入相應的補償措施。
2、r> 本文針對永磁機構真空斷路器在環(huán)境溫度變化時,動作時間變化趨勢復雜,難以通過理論分析得出的特點,研究通過溫度試驗的方法找出其變化趨勢。本文設計了3種試驗情形,分別研究溫度變化時,電容參數(shù)的變化對于斷路器合閘特性的影響,永磁機構參數(shù)的變化對于斷路器合閘特性的影響,永磁機構真空斷路器整機各參數(shù)的變化對于其合閘特性的影響。發(fā)現(xiàn)對于永磁機構斷路器,在溫度較高時,電容器的因素對于合閘時間的影響有限,但當溫度低于-20℃時,電容ESR迅速增大
3、,電容的迅速減小,電容器的因素對于合閘特性顯著。低溫對于永磁機構機械參數(shù)的影響非常顯著,有可能出現(xiàn)合閘失敗的情況,應該給與重視。溫度變化對于單穩(wěn)態(tài)永磁機構斷路器合閘時間的影響,永磁機構本體的影響因素占主要部分,但在極端低溫環(huán)境下,電容器各項因素對合閘時間的影響將劇增。通過對試驗數(shù)據(jù)的擬合,得出其動作時間隨溫度的變化曲線,并通過3個溫度節(jié)點的試驗數(shù)據(jù)驗證了其準確度。通過將溫度試驗得出的相關數(shù)據(jù)代入Ansoft建立的永磁機構模型,發(fā)現(xiàn)永磁機
4、構真空斷路器放電回路電阻對于剛合速度影響較大,通過代入實際試驗參數(shù)的仿真得出的合閘時間隨溫度變化的曲線與實際試驗得出的合閘時間隨溫度變化的曲線趨勢基本一致,但在較低的溫度時,存在一定的差距。
本文通過試驗方法得到了合閘時間隨溫度變化趨勢,并擬合為經(jīng)驗公式,其準確度較高,可以為永磁機構同步關合等對動作時間要求較高的應用加入溫度前饋提供依據(jù),并分析了各影響因素與永磁機構真空斷路器合閘時間的關系,后期可嘗試修正擬合公式系數(shù),使得合閘
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