基于剪切散斑干涉的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與研究.pdf

1、剪切散斑干涉是一種直接測(cè)量物體表面位移的空間梯度的光學(xué)測(cè)量技術(shù)，其在電子散斑干涉的基礎(chǔ)上發(fā)展而來(lái)。不僅具有非接觸，全場(chǎng)測(cè)量，高靈敏度等優(yōu)點(diǎn)，和電子散斑干涉相比，還具備光路簡(jiǎn)單，對(duì)剛體位移不靈敏，抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)，在復(fù)合材料的無(wú)損檢領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。
　　本文設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)了一套剪切散斑干涉系統(tǒng)，針對(duì)傳統(tǒng)的剪切裝置測(cè)量視場(chǎng)角較小問(wèn)題，將4f系統(tǒng)嵌入剪切裝置中，有效的增大了測(cè)量視場(chǎng)角;開(kāi)發(fā)的系統(tǒng)既能靜態(tài)測(cè)量，又能滿足工業(yè)中動(dòng)態(tài)測(cè)量要求

2、。本文的具體研究?jī)?nèi)容如下:
　　(1)詳細(xì)介紹了剪切散斑干涉測(cè)量原理，對(duì)多種剪切裝置進(jìn)行分析對(duì)比。將4f系統(tǒng)嵌入到剪切裝置中來(lái)增大測(cè)量視場(chǎng)角，實(shí)現(xiàn)在單次測(cè)量視場(chǎng)1m×1m的情況下能檢測(cè)出較小的缺陷，同時(shí)能滿足動(dòng)態(tài)測(cè)量需求。
　　(2)研究了剪切散斑干涉圖像處理關(guān)鍵技術(shù)，針對(duì)相位解包圖中的相位表征的是離面位移的一階導(dǎo)數(shù)，本文研究位移的反演算法。論文采用積分求和方法，編寫了算法軟件，獲得了離面位移量，并進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。