基于多維特征的典型電子電路故障診斷技術(shù)研究.pdf

1、隨著系統(tǒng)集成化程度的高速發(fā)展，國(guó)防軍事等關(guān)鍵領(lǐng)域內(nèi)電子系統(tǒng)的功能愈加完善，同時(shí)也帶來了系統(tǒng)中電路模塊可及測(cè)點(diǎn)少、電路信息獲取困難、測(cè)試激勵(lì)難以施加、故障檢測(cè)率低等問題。因此必須深入研究典型電子電路的故障診斷技術(shù)，利用盡量少的測(cè)點(diǎn)提取盡可能多的故障特征信息，提高系統(tǒng)的可靠性，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)故障及時(shí)準(zhǔn)確的定位。
　　本文在分析典型電子電路結(jié)構(gòu)特性的基礎(chǔ)上，開展基于多維特征的故障診斷技術(shù)的研究，進(jìn)行多維故障特征的構(gòu)造與融合，優(yōu)化電路可測(cè)性設(shè)計(jì)

2、，提高系統(tǒng)故障診斷率。主要研究?jī)?nèi)容如下：
　　首先，研究基于多維特征的故障診斷算法。通過單一測(cè)點(diǎn)提取表征電路特性的多維故障特征，解決集成電路測(cè)點(diǎn)少、單一電壓信號(hào)信息含量少的問題；對(duì)多維故障特征進(jìn)行相關(guān)性分析，提取表征信號(hào)特征的主成分，簡(jiǎn)化算法的計(jì)算復(fù)雜度；對(duì)電路進(jìn)行容差分析和裕度設(shè)定，從而識(shí)別并排除器件容差、外界環(huán)境等對(duì)電路特征的影響。
　　其次，對(duì)典型電子電路進(jìn)行原理和故障特性分析，根據(jù)電路輸出響應(yīng)的特點(diǎn)，應(yīng)用基于多維特征

3、的故障診斷算法，對(duì)電路進(jìn)行故障特征提取與優(yōu)化，建立故障-特征依賴矩陣，縮短實(shí)際故障診斷時(shí)間。計(jì)算典型電子電路的故障診斷指標(biāo)，驗(yàn)證算法的實(shí)用性和有效性。
　　再次，設(shè)計(jì)典型電子電路故障診斷系統(tǒng)。設(shè)計(jì)系統(tǒng)上位機(jī)和下位機(jī)，實(shí)現(xiàn)用戶流程可控化、故障診斷過程可視化和自動(dòng)化的設(shè)計(jì)；通過劃分系統(tǒng)級(jí)和模塊級(jí)兩個(gè)故障診斷模式，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)故障快速定位；對(duì)系統(tǒng)各模塊進(jìn)行聯(lián)調(diào)，保證系統(tǒng)功能的完備性。
　　最后，搭建電子電路典型應(yīng)用系統(tǒng)，應(yīng)用層次化的可