序貫測試動態(tài)優(yōu)化與多目標(biāo)優(yōu)化算法研究.pdf

1、由于電子系統(tǒng)結(jié)構(gòu)日趨復(fù)雜，對其性能及狀態(tài)的測試也變得愈加困難，因此，需要在系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)就將可測性作為一項(xiàng)指標(biāo)納入設(shè)計(jì)范疇。序貫測試問題的目的是生成一組總體測試代價(jià)最小的測試序列以識別系統(tǒng)的故障，對減少系統(tǒng)后期維護(hù)成本具有現(xiàn)實(shí)意義，本文對序貫測試問題進(jìn)行了深入研究，對不同方面的序貫測試問題提出了解決方法。目前進(jìn)行可測性輔助設(shè)計(jì)的軟件較少，且大多都是基于客戶端/服務(wù)器架構(gòu)（C/S架構(gòu)），本文使用基于瀏覽器/服務(wù)器（B/S架構(gòu)）架構(gòu)對相關(guān)功能進(jìn)

2、行設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。本文主要研究工作如下：
　　1.介紹了序貫測試問題及常用于解決序貫測試問題的 AO*算法，由于 AO*算法的性能主要取決于所選的啟發(fā)函數(shù)，根據(jù)實(shí)際需要介紹了兩種不同的啟發(fā)函數(shù)：可求取系統(tǒng)最優(yōu)測試代價(jià)的基于霍夫曼編碼的啟發(fā)函數(shù)和用于快速估算系統(tǒng)測試代價(jià)的基于信息熵的啟發(fā)函數(shù)，并用兩個(gè)實(shí)例說明了這兩種啟發(fā)函數(shù)的區(qū)別及各自的使用范圍。
　　2.由于序貫測試的相關(guān)參數(shù)在系統(tǒng)實(shí)際使用中經(jīng)常發(fā)生改變，本文提出根據(jù)具體發(fā)生的

3、變化對已有的故障診斷樹進(jìn)行修改的算法，該算法利用了已有信息對原故障診斷樹進(jìn)行調(diào)整，相對于重新生成新的故障診斷樹的效率要高，且該算法需要判斷是否需要對原故障診斷樹進(jìn)行調(diào)整，適合在參數(shù)經(jīng)常發(fā)生波動的情況下提高效率。
　　3.首先說明了多目標(biāo)優(yōu)化問題，并將實(shí)際序貫測試問題遇到的多目標(biāo)問題與經(jīng)典多目標(biāo)問題相結(jié)合，并介紹一種基于多目標(biāo)極值的遺傳規(guī)劃優(yōu)化算法來解決這一問題，這種算法在遺傳操作的基礎(chǔ)上增加了分組、分配適應(yīng)度、擇優(yōu)等操作，在種群進(jìn)