電場誘導(dǎo)人晶狀體上皮細(xì)胞上皮間質(zhì)轉(zhuǎn)分化的實驗研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、目的:晶狀體后囊膜混濁(PCO)是白內(nèi)障術(shù)后最常見的并發(fā)癥。該過程被認(rèn)為是手術(shù)啟動了晶狀體的異常損傷修復(fù)反應(yīng),進(jìn)而誘發(fā)晶狀體上皮細(xì)胞(LECs)在后囊膜上增生、移行,并出現(xiàn)上皮間質(zhì)轉(zhuǎn)分化(EMT)和晶狀體纖維再生。晶狀體上皮損傷影響了晶狀體自身獨有的電流環(huán)路,產(chǎn)生傷口電位和電場,增加赤道部LECs的增殖。所以有人認(rèn)為白內(nèi)障手術(shù)破壞了晶狀體正常的電流形式和內(nèi)在的電場,使LECs失去晶狀體原有電流及電場的調(diào)節(jié)作用,導(dǎo)致LECs發(fā)生EMT,這

2、可能是PCO發(fā)生的部分原因。本實驗通過建立電場對人晶狀體上皮細(xì)胞系HLE-B3細(xì)胞的體外作用模型,觀察電場對 HLE-B3細(xì)胞的生物學(xué)效應(yīng),如凋亡、增生、形態(tài)及細(xì)胞周期的影響,并檢測電場對HLE-B3細(xì)胞內(nèi)EMT標(biāo)志物表達(dá)的影響及電場誘導(dǎo)HLE-B3細(xì)胞發(fā)生EMT的作用機(jī)制。
  方法:
  1)體外培養(yǎng)人晶狀體上皮細(xì)胞系 HLE-B3細(xì)胞,并根據(jù)文獻(xiàn)描述建立電場對HLE-B3細(xì)胞的作用模型;將細(xì)胞分別暴露于電場強(qiáng)度為50-

3、150mV/mm的電場中,顯微照相系統(tǒng)記錄電場作用前、作用6h、12h及24h的細(xì)胞圖像;流式細(xì)胞儀檢測各時間點細(xì)胞凋亡情況并選擇合適的電壓。電壓為100mV/mm時,觀察電場對HLE-B3細(xì)胞增生的影響;流式細(xì)胞儀測定細(xì)胞周期。
  2)運用 qRT-PCR技術(shù)檢測電場對 HLE-B3細(xì)胞中 EMT標(biāo)志物 E-cadherin、Vimentin及integrinβ1基因表達(dá)的影響;運用免疫熒光及Western blot實驗檢測電

4、場對HLE-B3細(xì)胞中EMT標(biāo)志物E-cadherin, Vimentin及integrinβ1蛋白表達(dá)的影響。
  3)分別加入 integrinβ1抑制劑 MAB1965和 FAK抑制劑 PF-573,228,觀察HLE-B3細(xì)胞形態(tài)的變化及EMT標(biāo)志物基因、蛋白表達(dá)的變化,進(jìn)一步探明電場誘導(dǎo)LECs發(fā)生EMT與integrinβ1-FAK信號通路之間的關(guān)系。
  結(jié)果:
  1)成功建立了電場對 HLE-B3細(xì)胞

5、的作用模型。50mV/mm的電場暴露組中,細(xì)胞形態(tài)未見明顯變化。100mV/mm、150mV/mm的電場暴露中,細(xì)胞間隙增加,細(xì)胞胞體伸長、呈紡錘樣,且細(xì)胞長軸轉(zhuǎn)向垂直于場線的方向。流式細(xì)胞儀檢測結(jié)果進(jìn)一步顯示,150mV/mm電場強(qiáng)度可誘導(dǎo)細(xì)胞發(fā)生凋亡。100mV/mm的電場暴露組中,細(xì)胞的增殖受到明顯的抑制,表現(xiàn)為細(xì)胞周期由G1期向S期過渡的抑制。
  2)分別應(yīng)用免疫熒光、qRT-PCR法和Western blot檢測EF對

6、EMT標(biāo)志物表達(dá)的影響。qRT-PCR法、免疫熒光和Western blot實驗結(jié)果顯示:電場誘導(dǎo)HLE-B3細(xì)胞上皮標(biāo)志物E-cadherin的基因和蛋白表達(dá)下調(diào),間質(zhì)細(xì)胞標(biāo)志物Vimentin基因和蛋白表達(dá)上調(diào)。
  3)電場誘導(dǎo)HLE-B3細(xì)胞integrinβ1表達(dá)的上調(diào)和FAK的活化。電場聯(lián)合integrinβ1抑制劑MAB1965作用HLE-B3細(xì)胞后,細(xì)胞形態(tài)未發(fā)生明顯的改變,Western blot檢測結(jié)果顯示E-

7、cadherin和Vimentin的蛋白表達(dá)與對照組相比,無明顯的統(tǒng)計學(xué)差異。而電場聯(lián)合 FAK抑制劑 PF-573,228作用后,細(xì)胞形態(tài)依舊出現(xiàn)在電場作用下伸長的趨勢。Western blot檢測結(jié)果顯示E-cadherin蛋白表達(dá)下調(diào)、Vimentin蛋白表達(dá)上調(diào),與對照組相比,有顯著的統(tǒng)計學(xué)差異。
  結(jié)論:
  1)100mV/mm的電場引起HLE-B3細(xì)胞發(fā)生EMT的形態(tài)學(xué)改變,并誘發(fā)細(xì)胞凋亡,抑制HLE-B3細(xì)

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