基于線結構光的微小尺寸視覺檢測研究.pdf

1、電子部件的使用壽命及穩(wěn)定性很大程度上受其尺寸精度的影響，由于目前計算機主要使用的是機械硬盤，因此硬盤底座的生產(chǎn)精度將影響硬盤性能的可靠程度。若硬盤底座的機械參數(shù)出現(xiàn)了較大偏差，將降低盤組，進氣管，磁頭小車，步進電機，水平防震腳等重要組件的安裝牢靠度，從而降低機械硬盤的整體穩(wěn)定性。而目前針對硬盤底座的幾何指標測量設備多采用接觸式測量，由于接觸式測量易對硬盤產(chǎn)生劃傷，故急需相應非接觸式檢測設備。因此將線結構光視覺測量應用于計算機硬盤底座的檢

2、測上，并研創(chuàng)相應的實時測量系統(tǒng)，對于提高硬盤三維檢測精度，效率及自動化程度，拓寬線結構光三維測量法的應用領域有著很重要的意義。
　　針對生產(chǎn)線上對硬盤底座三維數(shù)據(jù)的實時檢測需求，研究了基于線結構光的硬盤底座三維掃描測量系統(tǒng)。首先，針對現(xiàn)場環(huán)境及精度需要搭建了由線激光器，相機，精密位移平臺組成的線結構光三維測量平臺；其次，研究了針對硬盤的強反射光條毛刺的形態(tài)學處理算法，應用了特殊帶通線性濾波器以分離光條高頻噪點，并利用開運算，分水嶺

3、等形態(tài)學算法進一步解決噪點和有效光條的粘連；分析了各設備硬件參數(shù)對測量精度的影響；最后，測量了硬盤底座的三維數(shù)據(jù)，完成了基于點云的硬盤底座三維模型重構。
　　根據(jù)現(xiàn)場實時檢測的需求設計了測量軟件，并應用于計算機硬盤底座的表面測量。根據(jù)測量精度及重復度實驗結果，在視場長100mm寬75mm的情況下，本測量系統(tǒng)依然可以達到較高的重復度和精度。針對硬盤底座的表面高度信息的平均測量精度優(yōu)于100um，對于表面平整無反光的區(qū)域，測量重復度可