層疊太陽能硅片圖像紋理提取與計數技術研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、在光伏發(fā)電領域中,太陽能硅片是太陽能發(fā)電組件的核心原料,需求量巨大,對其進行的數量統(tǒng)計是在其生產流轉中重要的必備過程。為滿足自動化生產中太陽能硅片批量無損的數量統(tǒng)計需求,本文基于機器視覺和圖像處理技術,從層疊太陽能硅片圖像的紋理特征入手,將層疊的硅片所呈現的明暗邊棱條紋看作條紋紋理,開展層疊太陽能硅片圖像條紋紋理的提取和計數研究,主要研究內容與取得的成果如下:
  1.基于機器視覺的層疊太陽能硅片計數系統(tǒng)設計。根據硅片的尺寸、顏色

2、、側面特征以及測試環(huán)境等因素計算視覺參數,設計搭建了基于雙光源的層疊太陽能硅片圖像獲取平臺。
  2.層疊太陽能硅片圖像的預處理。首先,提出了基于灰度分布、Radon變換和圖像頻譜的三種紋理方向檢測方法,相對于改進切片法和梯度法,在精確度、復雜度、計算時間以及抗噪能力上都有很大優(yōu)勢,紋理方向檢測誤差由±2°減少到了±0.5°。其次,以旋轉和掩膜的方式實現圖像的紋理傾斜校正和ROI區(qū)域定位,解決了因傾斜放置硅片所導致的圖像條紋未水平

3、分布的現象,并消除了不必要的圖像區(qū)域,提高了運算效率。最后,提出了基于紋理方向信息的Gabor濾波方法,沿著紋理的方向濾波平滑,使濾除噪聲的同時保留了圖像的整體紋理特征,增加了圖像紋理中脊線以及谷線的辨識度。
  3.層疊太陽能硅片圖像的紋理提取。提出了基于Niblack與背景校正相結合的紋理分割提取方法,并以兩種方法互補的方式,抑制噪聲而突出條紋紋理特性,得到噪聲較小而硅片的紋理信息保留較完整的二值圖像,解決了圖像灰度不均以及紋

4、理不清晰時無法提取出紋理的難題,為紋理計數奠定了基礎。
  4.層疊太陽能硅片圖像的紋理計數。提出了基于自適應差分統(tǒng)計的紋理計數方法,設計多列統(tǒng)計、誤差剔除、差分計數、概率分布統(tǒng)計以及誤差校正等多種方法運用到計數算法中,降低了噪聲的干擾,對于圖像質量不好、噪聲較多、灰度不均等情況都能實現準確可靠的計數。同時,提出了基于自適應差分統(tǒng)計的紋理計數準確度校驗的方法,硅片計數的準確度和可靠性得到了保證。
  本文所提出的方法在實驗室

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