高精度測(cè)量電路快速啟動(dòng)研究.pdf

1、本文主要研究了高精度測(cè)量電路的快速啟動(dòng)問題。高精度測(cè)量電路啟動(dòng)階段溫度變化劇烈，啟動(dòng)后溫度平衡的建立時(shí)間長(zhǎng)，導(dǎo)致電路零偏和標(biāo)度因數(shù)變化劇烈，需要通過校準(zhǔn)來(lái)減小。同時(shí)，電路的零偏和標(biāo)度因數(shù)會(huì)在使用過程中緩慢漂移，同樣需要校準(zhǔn)來(lái)減小。老化試驗(yàn)可以提高電路參數(shù)的穩(wěn)定性，溫度場(chǎng)均勻化可以縮短電路啟動(dòng)后溫度穩(wěn)定所需的時(shí)間，還可以降低電路溫度穩(wěn)定時(shí)的溫度。
　　 首先研究了電路啟動(dòng)瞬時(shí)的零偏快速校準(zhǔn)。電路啟動(dòng)階段零偏變化劇烈且穩(wěn)定時(shí)間長(zhǎng)，同

2、時(shí)零偏還會(huì)隨著使用緩慢漂移。電路啟動(dòng)階段溫度變化劇烈，實(shí)際溫度信息不能得到。本文用時(shí)間代替溫度值，采用分段建模的方法在電路啟動(dòng)瞬時(shí)準(zhǔn)確預(yù)報(bào)了溫度穩(wěn)定后的零偏值，進(jìn)而對(duì)零偏校準(zhǔn)。校準(zhǔn)后電路零偏能在啟動(dòng)后快速達(dá)到穩(wěn)定，零偏重復(fù)性得到顯著改善。
　　 其次研究了電路啟動(dòng)瞬時(shí)的標(biāo)度因數(shù)快速校準(zhǔn)。電路啟動(dòng)階段標(biāo)度因數(shù)變化劇烈且穩(wěn)定時(shí)間長(zhǎng)，同時(shí)標(biāo)度因數(shù)會(huì)在使用過程中緩慢漂移。電路在啟動(dòng)階段溫度劇烈變化且溫度穩(wěn)定時(shí)間長(zhǎng)，我們無(wú)法對(duì)標(biāo)度因數(shù)校準(zhǔn)

3、。通過改進(jìn)電路，使標(biāo)度因數(shù)校準(zhǔn)變得可能。利用電路啟動(dòng)瞬時(shí)的校準(zhǔn)標(biāo)度因數(shù)校準(zhǔn)溫度穩(wěn)定后的電路標(biāo)度因數(shù)并修正標(biāo)度因數(shù)的漂移，減小了溫度對(duì)電路標(biāo)度因數(shù)的影響，改善了標(biāo)度因數(shù)重復(fù)性。
　　 再次研究了高溫老化對(duì)提高電路參數(shù)穩(wěn)定性的作用。分析了老化試驗(yàn)的作用，選取Arrhenius模型作為高溫加速老化模型，搭建了高溫老化試驗(yàn)平臺(tái)，最后通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了高溫老化的作用。老化后電路的零偏重復(fù)性得到顯著改善，電路參數(shù)更加穩(wěn)定。
　　 然后研