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文檔簡介
1、在半導體工藝和集成電路制造技術飛速發(fā)展的今天,系統(tǒng)芯片SoC(systemon chip)的設計已成為國際超大規(guī)模集成電路的發(fā)展趨勢和集成電路設計的主流。SoC芯片中大量地采用了預先設計好的、完整的IP模塊來減少生產時間。但隨之也帶來了問題,因其規(guī)模的龐大,芯片的制造故障隨之提高了。這樣以來就對芯片的測試提出了更高的要求,不但需要更加精準的時序控制,還需要更長的芯片測試時間,這些都會導致測試成本的提高。測試數據壓縮是解決SoC測試成本等
2、諸多問題的一種行之有效的辦法,它能夠減少測試所需的存儲測試數據量,減少測試時間。一般來說平均每個SoC芯片上就擁有數百億位的測試向量。通過測試向量的壓縮(編碼)之后,測試數據量可以縮小20倍以上。
本文在深入研究各種測試壓縮技術的基礎上,著重研究幾種用編碼方式壓縮測試向量的方法,從壓縮率和解碼電路規(guī)模角度上對它們做出比較,得出了使用Golomb編碼來進行測試向量壓縮是一種簡單而又行之有效的辦法。Golomb編碼最大的特點就
3、是選擇了變長到變長的編碼方式,這樣編碼方式靈活,且會使代碼字的長度降低。同時,針對Golomb編碼中游程長度游離分散不易進行編碼壓縮的特點,提出了基于分組頻率的Golomb碼壓縮方法,并以公認的ISCAS85基準測試電路中的C17邏輯電路為被測電路進行實驗,將編碼后的測試向量輸入到設計好的解碼電路部分,再由該解碼器釋放出原來的測試向量,最后施加到C17上電路完成全部測試。
使用此方案在標準測試電路上的實驗,從仿真的實際測試
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