基于散斑計(jì)量的材料內(nèi)部缺陷檢測(cè)及物體形貌測(cè)量.pdf

1、散斑計(jì)量技術(shù)作為一種光學(xué)測(cè)量技術(shù)，由于其具有非接觸、高精度、實(shí)時(shí)全場(chǎng)測(cè)量等特性，被廣泛應(yīng)用在許多領(lǐng)域。本文主要考慮散斑計(jì)量技術(shù)在無損檢測(cè)及形貌檢測(cè)中的應(yīng)用，針對(duì)在無損檢測(cè)及形貌檢測(cè)中的存在的一些問題進(jìn)行相關(guān)研究，并在此基礎(chǔ)上提出相應(yīng)的解決方法。
　　針對(duì)散斑計(jì)量技術(shù)在無損檢測(cè)應(yīng)用中常常會(huì)遇到一些深層缺陷不能被直接識(shí)別這一問題，提出可以通過測(cè)量含缺陷材料離面變形的二階導(dǎo)數(shù)來識(shí)別該類缺陷的方法。為了證明該方法的正確性，利用理論推導(dǎo)、數(shù)

2、值仿真及實(shí)驗(yàn)三個(gè)方面對(duì)該方法進(jìn)行了驗(yàn)證。結(jié)果表明該方法能夠很好的識(shí)別出較深層缺陷的存在。同時(shí)，本文對(duì)剪切量在數(shù)字散斑干涉法進(jìn)行缺陷檢測(cè)中的影響進(jìn)行了研究。
　　缺陷的深度測(cè)量也是很缺陷檢測(cè)中重要的一個(gè)部分，也是最為復(fù)雜的部分。以往的缺陷深度檢測(cè)中往往是依據(jù)經(jīng)驗(yàn)或者簡(jiǎn)單的計(jì)算來獲得缺陷的大致深度，這樣往往會(huì)導(dǎo)致與實(shí)際的深度有較大偏差。針對(duì)這種情況，本文利用基本薄板撓度公式結(jié)合方程組求解，找到一種新的測(cè)量深度的方法。結(jié)果表明較之以往的