多通道時間交替ADC系統(tǒng)的研究與設(shè)計(jì).pdf

1、隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)、通信技術(shù)和微電子技術(shù)的高速發(fā)展,實(shí)時數(shù)字信號處理的速度越來越快,這對數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的速度不斷地提出新的要求。然而,由于芯片制造工藝的限制,單片ADC采樣技術(shù)無法在滿足高速采樣的同時保持較高的采樣精度,僅僅依靠單片ADC技術(shù)進(jìn)行高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)的方法已經(jīng)不能很好地滿足高速采樣技術(shù)發(fā)展的需求。
　　時間交替采樣技術(shù)的出現(xiàn)很好地解決了這一問題。時間交替采樣( Time-interleaved sampling),又叫多通

2、道并行采樣,這種技術(shù)主要是利用M片低速ADC并行交替采樣,然后在采樣系統(tǒng)后端對M路采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行拼接,從而使得整個采樣系統(tǒng)的采樣率達(dá)到M路單片采樣速率之和。這種方法可以在理論上保持高精度的同時成倍地提高采樣系統(tǒng)的采樣率。然而,由于時間交替采樣主要是憑借各個采樣通道之間的完美匹配來實(shí)現(xiàn)的,實(shí)際中這種完美匹配不可能實(shí)現(xiàn),通道間必然要引入失配誤差,這種誤差主要包括偏置誤差、增益誤差和時間誤差。如果不對這三種誤差進(jìn)行有效的估算和矯正,會給采樣后的