基于光學相干斷層掃描技術的非侵入式LED結溫研究.pdf

1、基于光學相干斷層掃描技術的非侵入式LED結溫研究摘要發(fā)光二極管(LED)是種觸發(fā)能發(fā)光的PN結二極管，可以看成是半導體二極管的一種。電子與空穴會在有適當的電壓作用下會產生復合，同時以光子的模式釋放出能量。結溫是衡量LED壽命和性能的一個很重要因素，但是對于封裝完成的LED很難直接測量其結溫。在本文研究中，我們使用光學相干斷層掃描技術直接測量LED結溫。光學相干斷層掃描技術是基于干涉儀通過接收樣品的背向反射信號，可以重建深度范圍為3毫米的

2、縱向解析微觀結構。本文主要完成工作如下：1、介紹了LED的發(fā)展概況以及LED結溫的重要性。2、講述了光學相干斷層掃描技術的原理，從干涉原理定義展開，系統闡述了光學相干斷層掃描技術從時域層次向頻域層次的發(fā)展歷程。在此基礎上，重點介紹了兩種干涉儀，了解兩種不同架構的干涉儀在系統中對成像的區(qū)別。3、針對LabⅥEW的軟件系統設計展開研究，重點講述了LabⅥEW系統框架的各個組成部分，依次是時序控制、圖像采集、圖像處理和圖像重建。NONDEST

3、RUCTIVEEVALUATIONOFJUNCTIONTEMPERATUREOFLEDMTHOPTICALCOHERENCETONOGRAPHYABSTRACT舢舢圳圳圳ⅢⅧ㈣圳刪Y2968156Alightemittingdiode(LED)isat、voleadsemiconductorlightsource，andapnjunctiondiode，、ⅣhichemitSlightwhenactiVatedWhenasuitable

4、voltageisappliedtotheleads，elec仃onsaureabletecombinewithelec訂onholes，releasingenergyinthefonllofphotonsHoweVer，junctiontempera：tureisanirIlportantissueforLEDlifetimeandperfomanceHoweVer，itisdimculttodirectlymeaSurethejun

5、ctiontemperamreintheLEDpaCkageInthisstudy，weuseopticalcoherencetomography(OCT)fordirectmeaSurementofLEDjunctiontemperatlJreOCT，、Ⅳhichisb2LsedonaninterferometerconfigurationbyreceiVingthebackscatteredsignalfbmthesaun叩1e，c

6、anrecons仃llctthedepthresolVedmicros們lCturesofas觚lpleinadepthrangeof3mmneworkofthisp印ermainlytllatarelistedaSfollows：ThedeVelopmentsituationofLEDandtheimponmceofLEDjunctiontenlperaturearedescribed2Thispaperdescribes廿1epri