集成電路電磁干擾測量方法的研究.pdf

1、隨著集成電路產業(yè)的發(fā)展，集成電路(IC)的電磁兼容性能也日益受到關注。集成電路作為電子設備的關鍵器件，其電磁干擾特性對電子設備的電磁兼容性具有重要影響。研究集成電路電磁干擾的測量方法，可以建立集成電路電磁兼容測量和評估的有效手段，以幫助集成電路電磁兼容性能的設計提高，并指導實際應用中的IC選型和改進。 本文分析了集成電路的電磁干擾測量技術涉及的有關電磁發(fā)射方面的內容，重點研究了有關IC的電磁干擾性能檢測方法，通過比較幾種方法的特

2、點，確立了主要研究直接耦合法和法拉第箱體法檢測技術，并對直接耦合法和法拉第箱體法的測量方法和測量系統(tǒng)進行了深入的研究。 本文的主要成果包括： a.分析了集成電路電磁干擾產生的原因，研究利用不同方法測量集成電路的電磁干擾，并重點分析了直接耦合法和法拉第箱體法的測量原理； b.重點研究了集成電路電磁干擾測量系統(tǒng)的構成，對所需的儀器設備提出了指標要求，對符合測量要求的測試設備進行了選型，并試制了探頭、匹配網(wǎng)絡、法拉

3、第箱體等裝置，完成了集成電路電磁干擾測量系統(tǒng)的搭建，并利用該成果進行了IC樣品的測試驗證。 c.研究了集成電路電磁干擾測量過程中需要注意的試驗條件、工作狀態(tài)、試驗布置、試驗過程、結果判定等問題，提出了集成電路電磁干擾測試方案。 本文研究建立的測試系統(tǒng)和測量方法，可以應用于IC的研發(fā)、評估和實際應用階段，對于IC設計前后電磁干擾的變化、對于不同IC電磁干擾的對比、對于IC實際應用中不同的使用方式，都能夠通過有效地測量，給