基于GPIB的MOSFET器件自動(dòng)測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展，封裝測試廠商對測試設(shè)備及測試系統(tǒng)的性能和成本提出了新的要求。目前，MOSFET器件的量產(chǎn)過程要求進(jìn)行雪崩、熱阻和柵極電阻測試。由于包含了這三個(gè)測試項(xiàng)目的自動(dòng)測試設(shè)備十分昂貴，所以自主研發(fā)一套能滿足量產(chǎn)需求的高性價(jià)比MOSFET自動(dòng)測試系統(tǒng)變得尤為重要。
　　通用接口總線(General-Purpose Interface Bus，GPIB)是當(dāng)前廣泛采用的一種組建自動(dòng)測試系統(tǒng)的接口方式。基于GPIB的自

2、動(dòng)測試系統(tǒng)將虛擬儀器技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)和功能強(qiáng)大的測試儀器整合在一起，具有測試速度快、準(zhǔn)確度高、功能強(qiáng)大、可擴(kuò)展性好、性價(jià)比高等優(yōu)點(diǎn)。本文針對南通富士通微電子股份有限公司的需求，基于GPIB設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了MOSFET器件自動(dòng)測試系統(tǒng)。本文首先介紹了GPIB的通信原理及IEEE-488/IEEE-488.2通信協(xié)議在VB環(huán)境下的實(shí)現(xiàn)方法；其次闡述了自動(dòng)測試系統(tǒng)的組建方法和體系結(jié)構(gòu)：利用GPIB總線將電感測試儀、熱阻測試儀、柵極電阻測試儀和一臺(tái)

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