微納米表面形貌測量中探針形狀重建的分析.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、表面三維形貌檢測是獲取零件表面形態(tài)特征的一種重要手段,也是記錄、比較和復(fù)制物體形態(tài)特征的基礎(chǔ),它在機器視覺、自動加工、工業(yè)檢測、產(chǎn)品質(zhì)量控制和生物等領(lǐng)域具有重要意義和廣闊的應(yīng)用前景。但在接觸式測量與掃描探針顯微鏡中存在一個問題,就是所獲得的掃描圖像是樣品與觸針/探針共同作用的結(jié)果,即是被測樣品實際形貌的近似描述。所以觸針/探針重建是減小探針膨脹效應(yīng)的要求,利用估計的探針形貌進行表面重建能夠得到更準(zhǔn)確的測量結(jié)果。 本文介紹了微米尺

2、度下觸針重建的方法—刮胡刀片法,以及納米尺度下探針重建的方法—盲重建法;通過模擬探針掃描成像,分析了探針形狀對測量樣品結(jié)果的影響;通過對仿真的成像結(jié)果采用盲重建法得到的探針結(jié)果,分析了盲重建法的優(yōu)缺點;提出了一種探針重建方法—STRM法(StylusTipReconstructionMethod),并分別與微米尺度下國際標(biāo)準(zhǔn)ISO5436-1(GB/T19067.1)建議的刮胡刀片法和納米尺度下美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院所提出的盲重建法進

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