基于多目標(biāo)進(jìn)化算法的內(nèi)建自測試(BIST)測試生成技術(shù)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、當(dāng)今集成電路技術(shù)進(jìn)入亞微米甚至深亞微米時代,電路的集成度飛速提高,其測試也面臨著越來越多的困難。由于BIST(Built-In Self-Test,內(nèi)建自測試)技術(shù)是在集成電路芯片內(nèi)部完成自測試的,具有全速測試,容易維護(hù)等優(yōu)點。因此該技術(shù)能有效解決數(shù)字電路的測試問題。但BIST技術(shù)也存在缺點:采用隨機(jī)測試時,測試長度很容易就過長;對某些隨機(jī)難測故障,也很難有滿意的故障覆蓋率。
　　本文針對上述 BIST測試生成技術(shù)存在的問題,在現(xiàn)

2、有測試的基礎(chǔ)上提出一種基于加權(quán) CA(Cellular Automata,細(xì)胞自動機(jī))和多目標(biāo)進(jìn)化算法的新測試生成方法。相比傳統(tǒng)的測試方法而言,該方法在減少測試矢量長度的同時不損失故障覆蓋率。采用基于加權(quán)CA結(jié)構(gòu)生成的測試矢量可以檢測到一些電路中的難測故障,以此減少測試長度;在此基礎(chǔ)上采取讓測試序列的集合中各測試碼之間的海明距離最大化,這樣就可以使每一個測試向量檢測到更多的不同故障,從而保證提高故障覆蓋率。本文通過對多目標(biāo)進(jìn)化算法的深入

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