SoC存儲器內(nèi)建自測試技術(shù)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著集成電路的發(fā)展,SoC芯片功能越來越強大。為了滿足 SoC芯片功能的需要,同時又不增加SoC芯片的尺寸,需要嵌入更多的IP核。在眾多的IP核中,存儲器核的應(yīng)用越來越廣泛,隨之而來的SoC存儲器的測試問題成為首要問題。由于SoC存儲器單元具有相同的結(jié)構(gòu),非常適合采用內(nèi)建自測試的方法。因此,根據(jù) SoC存儲器測試特點,設(shè)計符合IEEE1500標準的內(nèi)建自測試結(jié)構(gòu)成為低成本SoC存儲器測試的迫切要求。
　　本文在詳細的分析了SoC存

2、儲器的故障模型和March測試算法的基礎(chǔ)上,結(jié)合IEEE1500標準,實現(xiàn)了Wrapper結(jié)構(gòu)下基于微指令的MBIST控制器。重點介紹了算法狀態(tài)機、地址生成器、封裝器指令寄存器(WIR)等模塊的設(shè)計。該控制器能夠?qū)崿F(xiàn)Debug和BIST兩種測試模式下的字間故障和字內(nèi)故障檢測。針對該控制器,將面向“位”的March算法進行擴展,設(shè)計了面向“字”的28位指令編碼,利用此指令編碼實現(xiàn)MBIST控制器的測試流程。為了能夠兼容不同測試算法和存儲器

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